Математическое моделирование в микроэлектронике. Ч.1. Лукьяненко Е.Б. - 30 стр.

UptoLike

Составители:

Рубрика:

Спектральный анализ производится так же при обработке данных в

графическом постпроцессоре PROBE. Но при этом спектральному анализу

подвергается целиком весь график, изображенный на экране.

Пример текстовой записи задания на моделирование для схемы,

приведенной на рисунке.

1000pF

75k

VIN

10Vdc

.LIB C:\PSPICE\LIB\QNOM.LIB

VC 4 0 12V

R1 3 2 75k

R2 4 3 5k

C1 2 1 1000pF

VIN 1 0 AC 1 PULSE (0 0.01V 0 0 0 10u 20u)

.AC 50 1HZ 10MEG

.TRAN 0.2u 20u

.PROBE

.END

СТАТИСТИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ПО МЕТОДУ МОНТЕ-КАРЛО

Производится при статистическом разбросе параметров элементов, описанных

по директиве .MODEL.

Случайное значение параметра Х рассчитывается по формуле

X=Xном(1+x*D),

где Xном – номинальное значение параметра;

D - относительный разброс параметра X

x - центрированная случайная величина, принимающая значение на отрезке (-1,

+1).

Относительный разброс параметров D и закон распределения случайных

величин x задаются опцией опцией директивы .MODEL, которая имеет вид:

.MODEL RLOAD RES (R=1 DEV/GAUSS 5% LOT/UNIFORM 10%)