ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
2
1
d
d
r
=ε . (3.6)
3.3.5 При измерении менее качественных диэлектриков
особенно в области самых высоких частот показание
1
Q получа-
ется малым и иногда менее 10, поэтому целесообразно использо-
вать метод измерения с воздушным зазором.
1 После задвижения диэлектрика определить толщину об-
разца, обозначенную через
d
, и расстояние между пластинами
увеличить так, чтобы между испытываемым диэлектриком и
верхней пластинкой был воздушный зазор. Толщину воздушного зазора отсчитать по микрометру и
обозначить через
m
d (рис. 3.3). В остальном процесс измерения такой же, как и раньше – отсчитыва-
ются значения
1
Q и .
1
C
2 Отсчитать значения
2
Q и .
2
d
Коэффициент диэлектрических потерь материала составляет:
()
−
+
+−
=δ
m
m
dd
d
bdC
QQ
QQ
2
2
12
12
1
36,17
3,1
tg
.
Относительная диэлектрическая постоянная измеряемого материала следующая:
2
1
d
d
r
=ε .
Точность полученных в этом случае значений
δ
tg может быть хуже, чем указано в спецификации
ввиду наличия емкостей рассеяния краев образца и вероятной неточности при определении толщины
воздушного зазора .
m
d
3.3.6 В некоторых случаях при 1-м этапе основного измерения невозможно достичь резонанса
(максимального отклонения) путем настройки вспомогательной коаксиальной индуктивности
d
L .
Сказанное относится особенно к случаю измерения постоянной на высоких частотах (200 … 300
МГц).
В этих случаях необходимо использовать образцы с диаметром D, меньшим 50 мм (рис. 3.4). Этот
способ измерений можно в принципе использовать только в том случае, если нет образца нужных раз-
меров. Порядок измерений такой же, как и при измерении образцов диаметром 50 мм:
1 Отсчитать значения
1
Q ,
1
C ,
1
d .
2 Провести измерения
2
Q
и
2
d .
Коэффициент потерь образца материала:
(
)
()
2
12
12
12
04,01
36,1736,17
1
3,1
tg
D
dd
QQ
bCQQ
−−
+−
=δ
.
Относительная диэлектрическая постоянная определяется по фор-
муле:
Рис. 3.3
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 18
- 19
- 20
- 21
- 22
- …
- следующая ›
- последняя »