Аппаратные средства систем автоматизации аналитических приборов. Манойлов В.В. - 10 стр.

UptoLike

Составители: 

информацию со скоростью, с которой компьютер может эту инфор-
мацию принять.
С другой стороны в информационном потоке, поступающем от
анализатора, наиболее интересующая пользователя часть может быть
скрыта за счет представления информации в другой форме или за счет
присутствия в сигналах большого количества шума или помех. Спе-
циализированные вычислительные подсистемы на основе микропро-
цессоров производят преобразование информации в нужную для об-
работки в компьютере форму и осуществляют фильтрацию шумов и
помех, содержащихся в выходной информации от анализаторов.
Кроме того, специализированные вычислительные подсистемы
производят обнаружение и оценку параметров спектральных линий в
присутствии шума и дрейфа базовой линии, осуществляют накопле-
ние сигналов для повышения отношения полезного сигнала к шуму,
выполняют математические процедуры, например, такие как Фурье-
преобразование и вычисление корреляционных функций.
Функции программного обеспечения
Сбор информации от специфицированных вычислительных
систем или от аналого-цифровых подсистем.
Первичная обработка:
отбраковка «выбросов», сглаживание, фильтрация, обнаруже-
ние спектральных линий, оценка параметров спектральных линий.
Вторичная обработка: идентификация спектров определение
того, какое вещество анализировалось с использованием баз данных.
2. Измерительные подсистемы
2.1 Вторично-электронные умножители (ВЭУ) для регист-
рации малых токов
Для измерения токов в диапазоне от 10
-9
А до 10
-19
А и меньше
применяются вторично-электронные умножители, работающие совме-
стно со счетчиками импульсов или электрометрическими усилителя-
ми. Вторично-электронные умножители могут применяться для реги-
страции потока как положительных, так и отрицательных заряжен-
ных частиц. В этих устройствах используются высоковольтные уско-
ряющие напряжения от 1500 до 8000 вольт. В зависимости от знака
заряженных частиц к входному электроду такого устройства прикла-
дывается либо отрицательное высоковольтное напряжение для поло-
жительных частиц- ионов или отрицательное высоковольтное напря-
жение. На рис.4 представлена схема ВЭУ для регистрации положи-
тельных заряженных частиц- ионов. Такие устройства применяются в
10