Основы конденсаторостроения. Меркулов В.И. - 68 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ТПУ | Томск

Составители: 

Рубрика: 

ЭИКТ ЭЛТИ
68
Для партии из N конденсаторов
∑
= )(
1
)(
ττ
i
P
N
P
, (2.107)
т. е. вероятность безотказной работы можно приближенно оценить при
испытании выборки n-го количества конденсаторов из партии.
Объем выборки можно определить
)1lg(
)1lg(
*
q
p
n
−
−
=
, (2.108)
где q- допустимая доля выхода конденсаторов к концу срока службы
(q = 0.1);
p*- вероятность того, что q<= 0.1 или (p*= 0.9).
Изменение интенсивности отказов во времени в процессе эксплуатации
можно изобразить графиком (рис. 2.14).
На участке А интенсивность отказов
может возрастать за счет отбраковки кон-
денсаторов, дефекты которых не были вы-
явлены при испытаниях
(период прира-
ботки). На участке В (нормальная экс-
плуатация) интенсивность отказов незна-
чительна и практически постоянна.
Выход из строя конденсаторов на
данном участке происходит в основном за
счет старения изоляции в процессе экс-
плуатации. На участке С интенсивность отказов вновь резко возрастает за
счет износовых отказов, обусловленных выработкой ресурса при
значитель-
ном старении изоляции.
Существующие данные по эксплуатации конденсаторов показывают, что
основными причинами, вызывающими износовые отказы конденсаторов, яв-
ляются тепловое, электрохимическое и ионизационное старение изоляции.
С учетом воздействия температуры и напряженности электрического
поля срок службы конденсаторов можно описать уравнением
a
o
bt
о
EEe )/(
−
=
ττ
, (2.109)
где
τ
о
- срок службы при напряженности поля Е
о
;
a,b – константы.
На надежность реального конденсатора большое влияние оказывает вид
схемы внутренних соединений секций. Можно выделить следующие виды
соединений:
а) параллельно последовательное соединение;
б) параллельно последовательное соединение с индивидуальными пре-
дохранителями;
в) последовательно параллельное соединение;
г) последовательно параллельное соединение с индивидуальными пре-
дохранителями.
Рис. 2.14

Страницы