Синхротронное излучение в спектроскопии. Михайлин В.В. - 158 стр.

UptoLike

Составители: 

- 157 -
61. Зинин Э. И., Кравченко А. И., Михайлин В. В. и др.Журн.
прикл. спектроскопии, 1984, т. 40, с. 333—335.
62. Электронная и ионная спектроскопия твердых тел. Под. ред. Л.
Фирмэнса, Дж. Вэнника, В. Декейсер: пер. с англ. М.: Мир, 1981.
63. Адамчук В. К., Федосеенко С. И. В кн.: СИ-82 (см. [232]), с.
462— 466.
64. Агеев А. Л., Бабанов Ю. А., Блау В. и др.—EXAFS-
спектроскопия с использованием СИ накопителя ВЭПП-3. Пре-
принт ИЯФ СО АН СССР, 83— 25. Новосибирск, 1983, с. 1-53.
65. EXAFS-спектроскопия: теоретические аспекты, эксперимен-
тальная техника, применения (библиографический указатель). Но-
восибирск: Изд-во ИЯФ АН СССР, 1984.
66. 263. Sayers D. E., Stern E. A., Lytle F. W.—Adv. X-ray Anal., 1970,
vol. 13,
67. Sayers D. E., Stern E. A., Lytle F. W.-Phys. Rev. Lett., 1971, vol. 27,
68. Kincaid B. M., Eisenberger P.—Ibid., 1975, vol. 34, p. 1361—1364.
69. EXAFS and Near Edge Structure. Proc. of Intern. Conf. (Frascati,
1982). Ed. A. Bianconi, Incoccia L., Stiptick S. Berlin: Springer, 1983.
70. Lee P. A., Pendry J. В.—Phys. Rev., 1975, vol. Bll, p. 2795—2805.
71. Ashley С., Doniach S.— Ibid., p. 1279—1288.
72. Teo B.-K,. Lee P. A.—J. Amer. Chem. Soc., 1979, vol. 101, p. 2815—
2832
73. Клышко Д. Н. Фотоны и нелинейная оптика. М.: Наука, 1980.
74. Пенин А. Н.Автореф. дис. на соискание звания докт. физ.-мат.
наук-М, МГУ, 1982.
75. Китаева Г. X., Клышко Д. Н., Таубин И. В.Квантовая элек-
троника» 1982, т. 9, с. 560—568.
76. Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1970.
77. Квантовая метрология и фундаментальные константы/пер, с англ.
М.: Мир, 1981.
78. Мокульский М. А. и др.—В кн.: Всесоюзное совещание по ис-
пользованию СИ (доклады). Новосибирск: Изд. ИЯФ СО АН
СССР, 1982, с. 255—259.
79. Мокульский М. А., Вазина А. А.Вестник АН СССР, 1978, 8,
с. 8—24.
80. Вазина А. А. В кн.: Всесоюзное совещание по использованию
СИ (доклады). Новосибирск: Изд. ИЯФ СО АН СССР, 1982, с.
171—197.
81. Davoli I., Mikhailin V., Shepelev A. e. a.— In: Abstracts Intern.
Conf. Vacuum Ultraviolet Rad. Phys. Lund., 1986, vol. 1, p. 295—296.
82. Ternov I. M., Mikhailin V. V., Khalilov V. R. Synchtrotron Radia-
61. Зинин Э. И., Кравченко А. И., Михайлин В. В. и др.—Журн.
    прикл. спектроскопии, 1984, т. 40, с. 333—335.
62. Электронная и ионная спектроскопия твердых тел. Под. ред. Л.
    Фирмэнса, Дж. Вэнника, В. Декейсер: пер. с англ. М.: Мир, 1981.
63. Адамчук В. К., Федосеенко С. И. — В кн.: СИ-82 (см. [232]), с.
    462— 466.
64. Агеев А. Л., Бабанов Ю. А., Блау В. и др.—EXAFS-
    спектроскопия с использованием СИ накопителя ВЭПП-3. Пре-
    принт ИЯФ СО АН СССР, № 83— 25. Новосибирск, 1983, с. 1-53.
65. EXAFS-спектроскопия: теоретические аспекты, эксперимен-
    тальная техника, применения (библиографический указатель). Но-
    восибирск: Изд-во ИЯФ АН СССР, 1984.
66. 263. Sayers D. E., Stern E. A., Lytle F. W.—Adv. X-ray Anal., 1970,
    vol. 13,
67. Sayers D. E., Stern E. A., Lytle F. W.-Phys. Rev. Lett., 1971, vol. 27,
68. Kincaid B. M., Eisenberger P.—Ibid., 1975, vol. 34, p. 1361—1364.
69. EXAFS and Near Edge Structure. Proc. of Intern. Conf. (Frascati,
    1982). Ed. A. Bianconi, Incoccia L., Stiptick S. Berlin: Springer, 1983.
70. Lee P. A., Pendry J. В.—Phys. Rev., 1975, vol. Bll, p. 2795—2805.
71. Ashley С., Doniach S.— Ibid., p. 1279—1288.
72. Teo B.-K,. Lee P. A.—J. Amer. Chem. Soc., 1979, vol. 101, p. 2815—
    2832
73. Клышко Д. Н. Фотоны и нелинейная оптика. М.: Наука, 1980.
74. Пенин А. Н.—Автореф. дис. на соискание звания докт. физ.-мат.
    наук-М, МГУ, 1982.
75. Китаева Г. X., Клышко Д. Н., Таубин И. В.—Квантовая элек-
    троника» 1982, т. 9, с. 560—568.
76. Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1970.
77. Квантовая метрология и фундаментальные константы/пер, с англ.
    М.: Мир, 1981.
78. Мокульский М. А. и др.—В кн.: Всесоюзное совещание по ис-
    пользованию СИ (доклады). Новосибирск: Изд. ИЯФ СО АН
    СССР, 1982, с. 255—259.
79. Мокульский М. А., Вазина А. А.—Вестник АН СССР, 1978, № 8,
    с. 8—24.
80. Вазина А. А. — В кн.: Всесоюзное совещание по использованию
    СИ (доклады). Новосибирск: Изд. ИЯФ СО АН СССР, 1982, с.
    171—197.
81. Davoli I., Mikhailin V., Shepelev A. e. a.— In: Abstracts Intern.
    Conf. Vacuum Ultraviolet Rad. Phys. Lund., 1986, vol. 1, p. 295—296.
82. Ternov I. M., Mikhailin V. V., Khalilov V. R. Synchtrotron Radia-


                                 - 157 -