Синхротронное излучение в спектроскопии. Михайлин В.В. - 31 стр.

щего падения и частично кристаллические монохромато-
ры.
   Для длин волн больше 30 нм решетки могут использо-
ваться при нормальном падении. Для более коротких длин
волн отражение при нормальном падении для всех мате-
риалов оказывается слишком низким, и для получения мо-
нохроматического излучения необходимо использовать
скользящее падение.
   В качестве примера приведем однометровый спектро-
метр скользящего падения, используемый на электронном
синхротроне DESY (рис. 1.14). Спектрометр смонтирован
по схеме Роуланда и предназначен для спектроскопии
твердого тела в области 1–40 нм. В такой схеме пучок СИ
падает на входную щель спектрометра после отражения от
плоского зеркала. Такая схема, в которой на расширенную
входную щель и далее на решетку падает параллельный
пучок СИ, не является уже роуландовской. Схема не дает
высокого разрешения (до 0,2 нм), но позволяет увеличить
полезную интенсивность и избавиться от рентгеновского
фона. Когда СИ падает непосредственно на входную щель
спектрометра, возникает сильный фон из-за интенсивной
высокоэнергетической компоненты СИ. Большего эффекта
можно достичь, совместив фильтрацию (отражение) с фо-
кусировкой СИ на входную щель спектрометра. При этом
плоское зеркало заменяется на вогнутое, собирающее СИ
на входную щель. При такой установке с фокусировкой на
входную щель спектрометра разрешение улучшается в 10
раз (до 0,02 нм), а интенсивность спектра увеличивается
почти в 10 раз. В этой схеме спектры второго порядка про-
являются в области около 10 нм. В первой установке для
выделения порядков дифракции применялись пленочные
фильтры, а измерение поглощения проводилось при раз-
ной толщине, чтобы путем расчета коэффициента погло-


                          - 30 -