Синхротронное излучение в спектроскопии. Михайлин В.В. - 39 стр.

UptoLike

Составители: 

- 38 -
сирующее зеркало (сферическое вогнутое зеркало с золо-
тым покрытием). Фокусирующее зеркало предохраняло
дифракционную решетку от рентгеновской компоненты
излучения ускорителя и обеспечивало работу монохрома-
тора в расчетных условиях. Достигнутое разрешение со-
ставляло ~ 1 нм/мм. Дифракционная решетка монохрома-
тора (радиус 1 м, 1200 штрихов/мм, золотое покрытие) ис-
пользуется в схеме нормального падения и работает в об-
ласти 30—250 нм благодаря значительной интенсивности
СИ в коротковолновой области. Сканирование по спектру
производится с помощью прецизионной передачи, повора-
чивающей решетку вокруг перпендикулярной плоскости
электронной орбиты синхротрона оси. Управление скани-
рованием происходит дистанционно.
Спектр синхротронного излучения, полученный на вы-
ходе монохроматора, определяется спектром СИ и эффек-
тивностью дифракционной решетки, имеющей максимум
концентрации энергии около 80 нм. Для отделения высших
порядков в области 250—180 нм перед выходной щелью
монохроматора вводился фильтр из кварцевого стекла.
При работе в области длин волн меньших 60 нм вклад вы-
соких порядков незначителен из-за низкой отражательной
способности решетки в коротковолновой области (<30 нм)
спектра.
За выходной щелью установлена приставка с криоста-
том, позволяющая измерять спектры отражения и спектры
возбуждения люминесценции. В экспериментальной каме-
ре предусмотрена система деления пучка СИ для одновре-
менного получения сигнала от объекта исследования и
опорного сигнала. Такая схема регистрации позволяет из-
бавиться от нестабильности интенсивности СИ, возни-
кающей из-за непостоянства числа электронов в каждом
цикле ускорения. Свечение в каждом из каналов фиксиро-
валось фотоумножителями ФЭУ
1
и ФЭУ
2
. Обработка экс-
сирующее зеркало (сферическое вогнутое зеркало с золо-
тым покрытием). Фокусирующее зеркало предохраняло
дифракционную решетку от рентгеновской компоненты
излучения ускорителя и обеспечивало работу монохрома-
тора в расчетных условиях. Достигнутое разрешение со-
ставляло ~ 1 нм/мм. Дифракционная решетка монохрома-
тора (радиус 1 м, 1200 штрихов/мм, золотое покрытие) ис-
пользуется в схеме нормального падения и работает в об-
ласти 30—250 нм благодаря значительной интенсивности
СИ в коротковолновой области. Сканирование по спектру
производится с помощью прецизионной передачи, повора-
чивающей решетку вокруг перпендикулярной плоскости
электронной орбиты синхротрона оси. Управление скани-
рованием происходит дистанционно.
   Спектр синхротронного излучения, полученный на вы-
ходе монохроматора, определяется спектром СИ и эффек-
тивностью дифракционной решетки, имеющей максимум
концентрации энергии около 80 нм. Для отделения высших
порядков в области 250—180 нм перед выходной щелью
монохроматора вводился фильтр из кварцевого стекла.
При работе в области длин волн меньших 60 нм вклад вы-
соких порядков незначителен из-за низкой отражательной
способности решетки в коротковолновой области (<30 нм)
спектра.
   За выходной щелью установлена приставка с криоста-
том, позволяющая измерять спектры отражения и спектры
возбуждения люминесценции. В экспериментальной каме-
ре предусмотрена система деления пучка СИ для одновре-
менного получения сигнала от объекта исследования и
опорного сигнала. Такая схема регистрации позволяет из-
бавиться от нестабильности интенсивности СИ, возни-
кающей из-за непостоянства числа электронов в каждом
цикле ускорения. Свечение в каждом из каналов фиксиро-
валось фотоумножителями ФЭУ1 и ФЭУ2. Обработка экс-

                         - 38 -