Синхротронное излучение в спектроскопии. Михайлин В.В. - 45 стр.

атомной, молекулярной спектроскопии, спектроскопии
твердого тела и рентгенолитографии.




Рис. 1.21. Установка для спектроскопии твердого тела и молекуляр-
ной спектроскопии на синхротроне ФИАН 680 МэВ:
1 — СИ: 2 — разветвитель пучков; 3 — источник; 4 — отклоняющее зеркало; 5 —
дифракционная решетка; 6—выходная щель монохроматора; 7—камера образца


   Установка для спектроскопии твердого тела и молеку-
лярной спектроскопии создана на базе монохроматора
нормального падения без входной щели, специально раз-
работанного для работы с СИ ускорителя электронов ФИ-
АН С-60 в ВУФ-области спектра [20]. На рис. 1.21 приве-
дена оптическая схема установки. Излучение через развет-
витель пучков 2 попадает на плоское отклоняющее зеркало
4 с алюминиевым покрытием (угол падения 82,5°), которое
вырезает пучок СИ с поперечными размерами 2 см (~4
мрад) по горизонтали и 5 см по вертикали. Зеркало откло-
няет падающее излучение на 15° в горизонтальной плоско-
сти, осуществляя одновременно фильтрацию СИ от высо-
коэнергетической компоненты с λ<10 нм. Затем излучение
попадает на сферическую дифракционную решетку 5,
имеющую радиус кривизны 2 м. Использовались три ре-
шетки с различным количеством штрихов, материалом по-
крытия и областью концентрации энергии: 600 штрих/мм,
Аl; 1200 штрих/мм, Аl; 2400 штрих/мм, Pt. Выбор решетки
определяется спектральной областью работы и необходи-
мым разрешением.
   Разложенное в спектр излучение фокусируется дифрак-
ционной решеткой на выходную щель монохроматора 6.

                                  - 44 -