ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
а) б)
Рис. 1.12 Схема работы прибора лучевым методом:
а – на прохождение; б – на отражение
(d
2
– отсчетная величина; α – угол падения; β – угол отражения)
Рис. 1.13 Схемы квазиоптических приборов:
а – теневой метод; б – на прохождение; 1 – источник энергии;
2 – рупорный излучатель; 3 – коллиматор; 4 – объект контроля;
5 – линза, формирующая радиоизображение; 6 – приемная антенна; 7 – отражатель
Приборы с использованием нескольких частот. В этом методе внутреннее состояние объекта
контроля определяется либо по сдвигу резонансной частоты поглощения, либо при сравнении двух или
более частот, либо на основе анализа спектра частот.
Основой частотного метода является использование одновременно излучаемого широкого спектра
частот или изменения частоты в определенном интервале, когда полезный сигнал пропорционален из-
менению амплитуды, частоты, ее смещению по электромагнитному спектру, выделению разностной
частоты на нелинейном элементе. Метод может быть совмещен с методами «на отражение» и «на про-
хождение».
1.2 СВЧ ДЕФЕКТОСКОПИЯ МАТЕРИАЛОВ, ПОКРЫТИЙ И
ИЗДЕЛИЙ
α
α
ε
ε
α
3
β
α
β
2
ε
β
2
β
1
d
2
d
2
d
2
d
2
d
2
d
2
d
2
h
2
h
1
h
3
h
2
h
1
а)
б)
в)
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 21
- 22
- 23
- 24
- 25
- …
- следующая ›
- последняя »