Проектирование радиоволновых (СВЧ) приборов неразрушающего контроля материалов. Мищенко С.В - 47 стр.

UptoLike

Составители: 

Рубрика: 

руктивных параметров. С помощью анализа чувствительности исследуются отклонения характеристик
ПИП в наихудшем случае
0
Z
B
S
B
B
Z
Z
=
. (2.2.1)
Изменение характеристик ПИП. Изменение волнового сопротивления ПИП Z согласно формуле
(2.2.1) связано с допустимым отклонением B параметра B соотношением
=
=
N
n
Z
B
n
n
n
S
B
B
Z
Z
1
0
0
, (2.2.2)
где Z
0
волновое сопротивление при B = 0. Если волновое сопротивление является функцией несколь-
ких независимых переменных E
n
, где n = 1, 2, …, N, то суммарное изменение Z
0
может быть
записано в виде
(
)
=
±=
N
n
Z
B
n
n
n
S
B
B
Z
Z
1
0
max
0
. (2.2.3)
Наличие отклонений B
n
приводит к увеличению значения Z. Максимальное значение Z в наи-
худшем случае может быть найдено из соотношения
(
)
=
ν
±=
ν
ν
N
n
B
n
n
n
S
B
B
1
max
. (2.2.4)
Уравнения (2.2.3), (2.2.4) позволяют определить максимальные изменения Z
0
и ν в функции допус-
тимых отклонений.
Противоположная задачаопределение требований к технологии изготовления для обеспечения
допустимых изменений характеристик линии передачирассматривается далее.
Определение требуемой точности изготовления. Допустимое отклонение параметра B
m
при изго-
товлении B
m
, при котором значение Z не выходит из заданных пределов, может быть найдено из сле-
дующего уравнения:
=
=
N
n
Z
B
n
n
m
m
Z
B
mm
S
B
B
Z
Z
B
B
S
1
0
00
. (2.2.5)
Уравнение (2.2.5) справедливо, когда его правая часть положительна. В противном случае
требуемое значение Z не может быть обеспечено для данного значения B
m
. Аналогично для требуе-
мого значения ∆ν значение B
m
, может быть найдено из уравнения
=
νν
ν
ν
=
N
mn
n
B
n
n
m
m
B
nm
S
B
B
B
B
S
1
. (2.2.6)
Если должны выполняться оба критерия (и по Z, и по ∆ν), то должно быть выбрано минимальное
из двух значений B
m
. Приведенный анализ устанавливает связь между точностью изготовления и тех-
ническими характеристиками. Могут быть также установлены требования к технологии изготовления
для получения заданных технических характеристик ПИП.
Приведенные здесь формулы имеют общий характер и применимы к любым типам ПИП СВЧ.
Оценка чувствительности. Так как чувствительность определяется частными производными Z
0
и
ν по соответствующим параметрам, то формула чувствительности может быть получена, если известны
выражения для Z
0
и ν в замкнутой форме. Если допуски на изготовление меньше погрешности исполь-