Проектирование лазерных систем. Мишура Т.П - 51 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

СПб ГУАП | Санкт-Петербург

Составители: 

Рубрика: 

51
Выражения вида (4.14) позволяют рассчитать ряд параметров ска
нирующей системы и, в первую очередь, значение требуемого КПД ска
нирования η
c
. Это дает возможность разработчику оценить целесооб
разность применения того или иного типа сканирующей системы или
той, или иной ее конструкции, для которых известны достижимые
на момент разработки значения η
c
. Очевидно, что анализ таких вы
ражений позволяет определить рациональные для конкретных усло
вий соотношения между параметрами оптической системы, прием
ника и сканирующей системы.
Часто для уменьшения полосы частот Δf, т. е. для улучшения энер
гетического порога чувствительности ОЭП, в таких системах исполь
зуется не одноэлементный, а многоэлементный приемник, состоя
щий из N элементов размером a, расположенных вдоль направления
скорости v (линейка приемников). В этом случае частота f
c
может
быть уменьшена в N раз, а следовательно, во столько же раз умень
шится и Δf.
Энергетический расчет тепловизионной системы
При проектировании тепловизионных систем следует учитывать,
что они одновременно должны обладать хорошим температурным
и достаточно высоким пространственным разрешением. В простейших
системах обнаружения на сравнительно низких пространственных ча
стотах температурное разрешение может быть оценено с помощью эк
вивалентной шуму разности температур ΔТ
п
— разности температур
двух излучателей, например наблюдаемого объекта и окружающего
его фона, при которой разность сигналов, создаваемых этими излу
чателями, равна уровню шума.
Если изображение объекта с температурой Т перекрывает всю по
левую диафрагму оптической системы и преобладают шумы прием
ника излучения, имеющего площадь чувствительного слоя А, то
() () ()
2
T
1
1
2
*
псo
2
2м
4(,)
.
(/)
f
f
ТАf MT
ТDd
qD f ckk
−
λ
λ
⎡⎤
Δλ
⎢⎥
Δ= τλτλ λλ
λ
′
ε⎢ ⎥
⎣⎦
∫
(4.15)
Здесь А — площадь чувствительного слоя приемника излучения;
Δf — полоса пропускания шумов системы первичной обработки ин
формации; q — площадь полевой диафрагмы; D/f
′
— относительное
отверстие объектива; ε — излучательная способность наблюдаемого
объекта, принимаемая для спектрального диапазона системы λ
1
, ... , λ
2

Страницы