ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
 12
нахождения  холловской   подвижности  µ
H 
и  концентрации  свободных носителей 
заряда   N : 
µ
H  
= ∆R
BCDA 
dσ /B                                                               (12) 
N = rσ /eµ
H 
                                                                         (13) 
3. Подвижность носителей заряда  
Изучение   температурной   зависимости  подвижности  носителей  заряда  
позволяет  выявить  механизм  рассеяния  зарядов ,  а  также получить  некоторое  
представление  о поведении примесных центров   в   полупроводнике . 
  Общий  вид  температурной   зависимости  подвижности  в   полупроводнике  
можно выразить формулой : 
  µ = AT
-p 
,
                                                    (14) 
где   A  - коэффициент  пропорциональности, p - показатель степени, зависящий  от  
механизма рассеяния  носителей.  
Различают  два  механизма  рассеяния.  Рассеяние   на  ионизированных 
примесных центрах   и  рассеяние   на  тепловых колебаниях   решетки.  Первый 
реализуется   при  низких   температурах ,  а  второй   при  относительно  высоких . При 
рассеянии  на  ионизированных  примесных  центрах   с  ростом   температуры  
происходит  увеличение   подвижности  по  закону: µ ~ T 
3/2
. В  случае  рассеяния  на 
тепловых колебаниях   решетки  с  ростом   температуры   подвижность  падает  по 
закону:  µ ~ T 
-3/2
.  Если  в полупроводнике   реализуются   оба   механизма 
одновременно,  то  температурную   зависимость  подвижности  можно  выразить 
формулой :  µ = aT 
3/2
 + bT 
-3/2
  .  При  рассеянии  на  нейтральных примесях  
подвижность практически  не  меняется  с ростом   температуры . 
                                                   12
нах ож де ния х олловской подвиж ности µH и конце нтрации свободны х носите ле й
заряда N:
                                µH = ∆RBCDA dσ /B                                          (12)
                                N = rσ /eµH                                                (13)
      3. П одви жность носи тел ейзаря да
      И зуче ние те мпе ратурной зависимости подвиж ности носите ле й                   заряда
позволяе т вы явить ме х анизм рассе яния зарядов, а такж е получить не которое
пре дставле ние опове де нии приме сны х це нтров в полупроводнике .
      О бщ ий вид те мпе ратурной зависимости подвиж ности в полупроводнике
мож новы разить ф ормулой:
                                               µ = AT-p ,                                  (14)
где A - коэф ф ицие нт пропорциональности, p - показате ль сте пе ни, зависящ ий от
ме х анизма рассе яния носите ле й.
      Различаю т два ме х анизма рассе яния. Рассе яние                  на ионизированны х
приме сны х це нтрах и рассе яние на те пловы х коле баниях ре ш е тки.                П е рвы й
ре ализуе тся при низких те мпе ратурах , а второй при относите льновы соких . П ри
рассе янии на ионизированны х приме сны х це нтрах с ростом те мпе ратуры
происх одит уве личе ние подвиж ности позакону: µ ~ T            3/2
                                                                       . В случае рассе яния на
те пловы х коле баниях ре ш е тки с ростом те мпе ратуры подвиж ность падае т по
закону: µ ~ T      -3/2
                          . Е сли      в полупроводнике ре ализую тся оба ме х анизма
одновре ме нно, то те мпе ратурную зависимость подвиж ности мож но вы разить
ф ормулой: µ = aT         3/2
                                + bT   -3/2
                                              . П ри рассе янии на не йтральны х приме сях
подвиж ность практиче ски не ме няе тся с ростом те мпе ратуры .
