ВУЗ:
Составители:
32
тывается в границе раздела двух соседних зёрен. Кроме того, часть пози-
тронов может захватываться в стыках трех соседних кристаллитов — на-
нопорах и в свободных объёмах отсутствующих нанокристаллитов. Это
обстоятельство дает уникальную возможность решить одну из самых
сложных и интересных проблем наноматериалов - понять структуру гра-
ниц раздела. Действительно, структура границ раздела наряду с малостью
размера зёрен определяет большинство свойств наноматериала.
Аннигиляция позитронов позволяет определять характеристики
электронной системы совершенных кристаллов и одновременно чувстви-
тельна к несовершенствам особо малого размера в твёрдом теле, таким
как вакансии, вакансионные кластеры и свободные объёмы до одного ку-
бического нанометра. Существуют три метода электронно-позитронной
аннигиляции — время жизни позитронов, угловая корреляция
аннигиля-
ционного излучения (angular correlation of annihilation radiation) и допле-
ровское уширение аннигиляционного излучения (coincident Dopler broad-
ening of positron-electron annihilation radiation). Если измерение времени
жизни позитронов дает информацию об электронной плотности в месте
аннигиляции позитрона, то два других метода дают информацию о рас-
пределении импульсов электронов, с которыми аннигилирует позитрон.
Все три метода можно подразделить на две группы. В первой группе ис
-
пользуют медленные позитроны, позволяющие исследовать вещество на
небольшой глубине ниже поверхности. Во второй группе применяют бы-
стрые позитроны, которые проникают на большую (до 50 мкм) глубину и
дают информацию о типе, концентрации и распределении дефектов во
всем объёме твёрдого тела.
Для исследования наноматериалов в основном применялись быст-
рые позитроны, поскольку они
эффективны для получения информации о
строении границ раздела. Обычно в качестве источника позитронов ис-
пользуют радиоактивные изотопы
22
Na,
44
Ti и
58
Со с максимальной энер-
гией эмиттируемых позитронов 0,54, 1,50 и 0,47МэВ coответственно.
Излученный из радиоактивного источника (эмиттера) позитрон по-
сле попадания в твёрдое тело термализуется, т. е. быстро теряет свою ско-
рость и энергию, которая уменьшается до значения, соответствующего
температуре кристалла. Продолжительность термализации составляет
около 1 – 5 пс и пренебрежимо мала по сравнению с временем
жизни по-
зитрона в твёрдом теле. Поскольку размер зёрен наноматериалов состав-
ляет около 40 нм, то после термализации позитроны равномерно распре-
деляются по объёму многих зёрен, лежащих на большой глубине от по-
верхности кристалла. Из-за малого размера зёрен доля позитронов, терма-
лизованных вблизи поверхности зёрен, по порядку величины совпадает с
долей позитронов, термализованных внутри зерна.
После термализации позитрон начинает диффундировать по нано-
материалу в так называемом свободном или делокализованном состоянии
и аннигилирует из этого состояния с характерным временем τ
f
около 100
пс. Такое время жизни позитронов в свободном состоянии характерно для
32 тывается в границе раздела двух соседних зёрен. Кроме того, часть пози- тронов может захватываться в стыках трех соседних кристаллитов — на- нопорах и в свободных объёмах отсутствующих нанокристаллитов. Это обстоятельство дает уникальную возможность решить одну из самых сложных и интересных проблем наноматериалов - понять структуру гра- ниц раздела. Действительно, структура границ раздела наряду с малостью размера зёрен определяет большинство свойств наноматериала. Аннигиляция позитронов позволяет определять характеристики электронной системы совершенных кристаллов и одновременно чувстви- тельна к несовершенствам особо малого размера в твёрдом теле, таким как вакансии, вакансионные кластеры и свободные объёмы до одного ку- бического нанометра. Существуют три метода электронно-позитронной аннигиляции — время жизни позитронов, угловая корреляция аннигиля- ционного излучения (angular correlation of annihilation radiation) и допле- ровское уширение аннигиляционного излучения (coincident Dopler broad- ening of positron-electron annihilation radiation). Если измерение времени жизни позитронов дает информацию об электронной плотности в месте аннигиляции позитрона, то два других метода дают информацию о рас- пределении импульсов электронов, с которыми аннигилирует позитрон. Все три метода можно подразделить на две группы. В первой группе ис- пользуют медленные позитроны, позволяющие исследовать вещество на небольшой глубине ниже поверхности. Во второй группе применяют бы- стрые позитроны, которые проникают на большую (до 50 мкм) глубину и дают информацию о типе, концентрации и распределении дефектов во всем объёме твёрдого тела. Для исследования наноматериалов в основном применялись быст- рые позитроны, поскольку они эффективны для получения информации о строении границ раздела. Обычно в качестве источника позитронов ис- пользуют радиоактивные изотопы 22Na, 44Ti и 58Со с максимальной энер- гией эмиттируемых позитронов 0,54, 1,50 и 0,47МэВ coответственно. Излученный из радиоактивного источника (эмиттера) позитрон по- сле попадания в твёрдое тело термализуется, т. е. быстро теряет свою ско- рость и энергию, которая уменьшается до значения, соответствующего температуре кристалла. Продолжительность термализации составляет около 1 – 5 пс и пренебрежимо мала по сравнению с временем жизни по- зитрона в твёрдом теле. Поскольку размер зёрен наноматериалов состав- ляет около 40 нм, то после термализации позитроны равномерно распре- деляются по объёму многих зёрен, лежащих на большой глубине от по- верхности кристалла. Из-за малого размера зёрен доля позитронов, терма- лизованных вблизи поверхности зёрен, по порядку величины совпадает с долей позитронов, термализованных внутри зерна. После термализации позитрон начинает диффундировать по нано- материалу в так называемом свободном или делокализованном состоянии и аннигилирует из этого состояния с характерным временем τf около 100 пс. Такое время жизни позитронов в свободном состоянии характерно для
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 30
- 31
- 32
- 33
- 34
- …
- следующая ›
- последняя »