Изучение биологических объектов методами атомно-силовой микроскопии. Нагорнов Ю.С. - 23 стр.

UptoLike

Составители:

Рубрика:

зондовой микроскопии с колеблющимся кантилевером были представлены в работах [5,6]. В

них было продемонстрировано влияние градиентов сил на сдвиг резонансной частоты

кантилевера и возможность бесконтактного сканирования поверхности образца. Необходимо

отметить также, что ранее Дюриг изучал частотный сдвиг колеблющегося кантилевера в

силовом поле иглы сканирующего туннельного микроскопа [7].

В работе [5] была продемонстрирована также возможность зондирования материалов при

резком уменьшении амплитуды колебаний кантилевера. Возможность сканирования

поверхности образца не только в притягивающих, но и в отталкивающих силах была

продемонстрирована в [7]. Относительно слабый сдвиг частоты колебаний под влиянием

отталкивающих сил означает, что контакт зонда с поверхностью образца в процессе колебаний

не является постоянным. Только в течение короткой части периода колебаний зонд «ощущает»

контактные отталкивающие силы. Особенно это касается колебаний с большой амплитудой.

Рис.15. Схематичное представление принципа выбора рабочей точки. Z

– расстояние между

острием зонда и поверхностью [1].

Сканирование поверхности образца с колеблющимся кантилевером является не

бесконтактным, а скорее прерывисто-контактным. Выбор расстояния от поверхности образца

до острия зонда или выбор рабочей точки осуществляется из условия изменения частоты

колебаний кантилевера (рис.15). При этом работа АСМ происходит в режиме отталкивания

острия зонда и небольшого участка притяжения. Соответствующий метод сканирующей

силовой микроскопии назван прерывисто-контактныи или полуконтактным методом.