ВУЗ:
Составители:
Одной из интересных областей знаний, является микросхемотехника,
связанная с построением эквивалентов РК, аналогов приборов с S и N об-
разными ВАХ. Безусловно, развитие науки о РК сопровождается исследова-
ниями их качества.
Все РК делятся на РК широкого применения, которые в больших количе-
ствах выпускаются заводами, и РК частного применения, которые проекти-
руются и изготовляются по частным требованиям. Их конструкция зависит
от конструкции и назначения изделия, в котором они применяются, от осво-
енных процессов на заданном производстве.
К РК предъявляется много требований, главными из которых являются
надежность, экономичность и технологичность. Надежность характеризует-
ся интенсивностью отказов λ
i
, причем
Δt
ср
Ν
ΔΝ
i
λ
=
где ΔN – количество вышедших из строя РК за время испытания Δt;
N
ср
– количество РК в испытываемой партии
Интенсивность отказов устройства
∑
=
=
n
i
iy
1
λλ
Экономичность связана с дешевизной применяемых материалов и обору-
дования техпроцессов. Технологичность – способность РК изготавливаться
по простым и дешевым технологиям.
Понятно, что основные качества РК зависят от качества применяемых
материалов, правильности их выбора. Прогресс в радиоэлектронике идет по
схеме: новые материалы и техпроцессы – новые активные элементы – новая
схемотехника, а иногда и системотехника. Так, развитие микроэлектроники
позволило не только повысить надежность систем, повысить их сложность,
но и уменьшить габариты и потребляемую мощность.
Таким образом, роль РМ в радиоэлектронике является определяющей.
2. ДИЭЛЕКТРИКИ
2.1. Характеристики диэлектриков в постоянных элек-
трических полях
Диэлектрическая проницаемость и поляризованность, температурный ко-
эффициент диэлектрической проницаемости.
12
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 10
- 11
- 12
- 13
- 14
- …
- следующая ›
- последняя »