ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
46
Рис.8. Схема фарвитрона.
0
2
aU
m
w
, (5)
где а – постоянная прибора.
Амплитуда колебаний ионов
других масс нарастает по мере
их движения в анализаторе так,
что эти ионы достигают
стержней и нейтрализуются.
Перестройка на регистрацию
ионов других масс
осуществляется изменением ам-
плитуды U
0
или частоты
переменной составляющей напряжения. Разрешающая способность
R ~ 10
3
.
В фарвитроне ионы образуются непосредственно в самом ана-
лизаторе при соударениях молекул с
электронами, летящими с катода, и со-
вершают колебания вдоль оси прибора
между электродами 1 и 2 (рис. 8) с
частотой ω. Колебания обусловлены
распределением потенциала между
электродами. При совпадении частоты ω
этих колебаний с частотой переменного
напряжения U
вч.
подаваемого на сетку,
ионы приобретают дополнительную
энергию, преодолевают потенциальным
барьер и попадают на коллектор. Условие
резонанса имеет вид:
m
U
a
0
, (6)
где а – постоянная прибора.
Омегатрон пример динамического МА с поперечным (относительно
траектории ионов) магнитным полем. Разделение ионов по массам в
этом МА основано на совпадении циклотронной частоты иона с
частотой переменного напряжения, приложенного к электродам
анализатора (рис. 9). Под действием приложенных высокочастотного
электрического поля Е и перпендикулярного ему постоянного
магнитного поля ионы движутся по дугам окружности. Ионы,
Рис. 7. Схема квадрупольного масс-
спектрометра
