ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
38
4. Требования к отчету
Отчет должен содержать:
а) краткие сведение о методе масс спектрометрии вторичных ионов;
б) блок-схему установки МС-7201М с объяснением назначения узлов;
в) распечатку экспериментальных данных (спектр масс после обработки
по программе "Массив" (см. ПРИЛОЖЕНИЕ));
г) анализ полученных результатов;
д) выводы по работе.
5. Контрольные вопросы
1. Что такое разрешающая способность масс-спектрометра.
2. Из каких основных блоков состоят масс-спектрометр МС-7201М?
3. Какова разрешающая способность масс-спектрометра. МС-7201М?
4. Объясните, используя схему установки МС-7201М, назначение его
отдельных элементов.
5. Чем чувствительность масс-спектрометра отличается от его предела
обнаружения?
6. Какие типы масс-анализаторов Вы знаете?
7. Чем отличается масс-анализатор от масс-спектрометра?
Дополнительная литература
1. Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок.
– М.: Мир,1989.
2. Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования
поверхности. - М.: Мир,1989.
3. Нефедов В.И., Черепин В.Т.. Физические методы исследования
поверхности твердых тел. – М.: Наука, 1983.
4. Физическая Энциклопедия в 5-ти томах. Москва. Научное
издательство "Большая Российская энциклопедия", 1998 г.
5. Черепин В.Т., Васильев М.А. Методы и приборы для анализа
поверхности материалов. – Киев: Наукова думка, 1982.
