Методы и средства измерений, испытаний и контроля. Никитин В.А - 316 стр.

штрихов (рисунок 16.22а, 16.22б). Перемещение одного растра относительно
другого в направлении, перпендикулярном штрихам, вызывает перемещение
указанных зон сгущения штрихов в том же направлении, но значение этого
перемещения у оказывается гораздо больше, чем значение измеряемого
перемещения х, т. е. происходит оптическая редукция. Если расстояния между
штрихами на пластинах равны а и b (рисунок 16.22а, 16.22б), то перемещение у
будет вычисляться по формуле (16.23)

                                           x
                                  y=
                                       (1 − b a ) ,                  (16.23)


      В методе муара растры на двух пластинах имеют одинаковый шаг, но
расположены под небольшим углом α. друг к другу (рисунок 16.22б, 16.22г).
При наложении растров и их просвечивании наблюдаются светлые и темные
полосы, идущие поперек штрихов и называемые комбинационными, или
муаровыми, полосами. Перемещение одного из растров вызывает значительно
большее смещение муаровых полос в направлении, перпендикулярном
направлению движения растра, т. е. также происходит оптическая редукция.
Значения этих перемещений связаны соотношением (16.24)

                                    у = x/sin α,                     (16.24)

       Наличие оптической редукции в методах растра и муара позволяет
достигнуть высокой чувствительности к измеряемому перемещению.
       При измерениях перемещений от долей микрометра до метра
используются лазерные интерферометры. В этих приборах производится
сложение двух световых потоков, излучаемых лазером, один из которых
проходит постоянный путь, а второй - путь, зависящий от измеряемого
расстояния. Сложение потоков приводит к усилению или ослаблению
суммарного потока в зависимости от разности фаз потоков, т. е. в зависимости
от измеряемого расстояния.