Взаимодействие космических аппаратов с окружающей плазмой. Новиков Л.С. - 94 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

МГУ | Москва

Составители: 

Рубрика: 

94
В виде гистограммы на рисунке показано распределение интенсив-
ности излучения в коротковолновой области солнечного спектра.
На рис. 36 представлены усредненные данные о сечениях ионизации
молекулярных составляющих СВА электронами и протонами различ-
ных энергий и дифференциальные энергетические спектры частиц двух-
температурной максвелловской плазмы, характерные для ГСО.
Результаты расчета вероятности ионизации
газовых частиц различ-
ными излучениями приведены в табл. 7. Там же приведены данные, ха-
рактеризующие процесс ионизации СВА вторичными электронами и
фотоэлектронами, испускаемыми поверхностью тела.
Последний процесс существенно отличается от процессов ионизации
СВА первичными излучениями. Энергия вторичных электронов, уско-
ряемых отрицательным потенциалом поверхности КА, быстро растет по
мере удаления их от поверхности
, в результате чего уменьшается вели-
чина сечения ионизации. С увеличением расстояния
r падает также
плотность потока вторичных электронов. Расчеты показывают, что ре-
ально ионизация СВА вторичными электронами происходит только на
расстоянии менее 10 м от поверхности тела, где плотность их потока
еще не слишком мала.
Рис. 35. Спектральное распределение
плотности потока (гистограмма) и
зависимости сечений фотоионизации
молекул СВА σ
i
(λ) от длины волны
Φ
λ
, 10
9
см
–2
⋅c
–1
⋅нм
–1
1,5
1,0
0,5
0
3
2
1
0
σ
i
(
λ
), 10
–17
см
2
Длина волны λ, нм
100 80 60 40 20
CO
2
H
2
O
N
2
Рис. 36. Энергетические спектры
частиц плазмы и зависимости сечений
ионизации молекул СВА σ
i
эл
и σ
i
пр
от энергии частиц
Энергия частиц, кэВ
F, см
–2
⋅
c
–1
⋅ср
–1
⋅
кэВ
–1
10
5
10
6
10
7
10
8
σ
i
, см
2
10
–19
10
–18
10
–17
10
–16
10
–2
10
–1
10 1 10
2
p
e
σ
i
пр
E = 10 кэВ 
   В виде гистограммы на рисунке показано распределение интенсив-
ности излучения в коротковолновой области солнечного спектра.
   На рис. 36 представлены усредненные данные о сечениях ионизации
молекулярных составляющих СВА электронами и протонами различ-
ных энергий и дифференциальные энергетические спектры частиц двух-
температурной максвелловской плазмы, характерные для ГСО.
Φλ, 109 см–2⋅c–1⋅нм–1                  σi(λ), 10–17 см2   F, см–2⋅c–1⋅ср–1⋅кэВ–1                         σi, см2

                                                                                          σiпр
1,5                          CO2                     3
                                                          108                                                  10–16

                             H2O
1,0                                                  2                              e
                                                          107                                                  10–17




                                                                                            E = 10 кэВ
0,5                          N2                      1    106                                                  10–18
                                                                                    p

 0                                                   0    105                                                  10–19
       100       80     60        40         20             10–2         10–1       1            10      102
                 Длина волны λ, нм                                         Энергия частиц, кэВ
Рис. 35. Спектральное распределение                         Рис. 36. Энергетические спектры
  плотности потока (гистограмма) и                        частиц плазмы и зависимости сечений
                                                                                      эл  пр
зависимости сечений фотоионизации                           ионизации молекул СВА σi и σi
 молекул СВА σi(λ) от длины волны                                   от энергии частиц


   Результаты расчета вероятности ионизации газовых частиц различ-
ными излучениями приведены в табл. 7. Там же приведены данные, ха-
рактеризующие процесс ионизации СВА вторичными электронами и
фотоэлектронами, испускаемыми поверхностью тела.
   Последний процесс существенно отличается от процессов ионизации
СВА первичными излучениями. Энергия вторичных электронов, уско-
ряемых отрицательным потенциалом поверхности КА, быстро растет по
мере удаления их от поверхности, в результате чего уменьшается вели-
чина сечения ионизации. С увеличением расстояния r падает также
плотность потока вторичных электронов. Расчеты показывают, что ре-
ально ионизация СВА вторичными электронами происходит только на
расстоянии менее 10 м от поверхности тела, где плотность их потока
еще не слишком мала.

                                                          94

Страницы