ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
Для измерения выходной ВАХ следует подключить вольтметр посто-
янного тока к гнездам PV1 макета между затвором ПТ («З») и общим про-
водом «Общ.» (с которым соединен исток ПТ). Ручкой RP1 источника пи-
тания GB1 установить заданное фиксированное напряжение затвор-исток
U
ЗИ
= U
ЗИ0
< 0, контролируя его по показаниям вольтметра.
Затем следует включить этот вольтметр между стоком ПТ (гнездо «С»)
и общим проводом «Общ.» усилителя. Ручкой регулировки выходного на-
пряжения внешнего источника питания следует последовательно устанав-
ливать напряжения
U
СИ
сток-исток ПТ из интервала 0...10 В с шагом не
более 0,5 В. При этом напряжение
U
СИ
следует контролировать с помощью
вольтметра. Для каждого установленного значения
U
СИ
с помощью милли-
амперметра PA2 измерить соответствующее значение тока стока
I
C
.
Установленные значения напряжений
U
СИ
, а также соответствующие
им измеренные значения тока стока
I
C
занести в таблицу. Там же указать
выбранное значение напряжения
U
ЗИ
= U
ЗИ0
. Полученная зависимость I
C
=
=
f(U
СИ
) при фиксированном U
ЗИ
= U
ЗИ0
представляет одну из характери-
стик семейства выходных ВАХ ПТ. Выбирая другое напряжение
U
ЗИ
= U
ЗИ0
, аналогично получают другую ВАХ из этого семейства.
3. Методы измерения дифференциальных параметров ПТ
По управляющим и выходным ВАХ транзистора можно определить его
дифференциальные параметры. Рассмотрим методы определения крутизны
S, входного сопротивления R
i
и статического коэффициента усиления M.
3.1. Метод измерения крутизны транзистора
Согласно (4), крутизна определяется как
S = dI
С
/
dU
ЗИ
при U
СИ
= сonst.
На практике крутизну
S определяют как отношение малого приращения
ΔI
C
→ 0 тока стока I
C
к вызвавшему его малому приращению ΔU
ЗИ
→ 0 на-
пряжения затвор-исток
U
ЗИ
при постоянном напряжении сток-исток U
СИ
.
Пример нахождения приращений
ΔI
C
и ΔU
ЗИ
по графику управляющей
ВАХ при заданных значениях
U
СИ
= U
СИ0
, U
ЗИ
= U
ЗИ0
(в рабочей точке А)
показан на рис. 5. Используя значения этих приращений, вычисляют кру-
тизну ПТ по приближённой формуле
S ≈ ΔI
C
/
ΔU
ЗИ
. Управляющая ВАХ яв-
ляется нелинейной функцией, поэтому значение крутизны
S зависит от ра-
бочей точки (напряжений
U
СИ0
и U
ЗИ0
).
Для маломощных ПТ ток стока
I
C
обычно выражают в [mA], а напря-
жение
U
ЗИ
– в [В], поэтому крутизна S обычно выражается в [мА/В].
3.2. Метод измерения выходного сопротивления транзистора
Согласно (7), выходное сопротивление определяется как
R
i
= dU
СИ
/
dI
С
при U
ЗИ
= сonst. На практике выходное сопротивление R
i
определяют как
31
Для измерения выходной ВАХ следует подключить вольтметр посто- янного тока к гнездам PV1 макета между затвором ПТ («З») и общим про- водом «Общ.» (с которым соединен исток ПТ). Ручкой RP1 источника пи- тания GB1 установить заданное фиксированное напряжение затвор-исток UЗИ = UЗИ0 < 0, контролируя его по показаниям вольтметра. Затем следует включить этот вольтметр между стоком ПТ (гнездо «С») и общим проводом «Общ.» усилителя. Ручкой регулировки выходного на- пряжения внешнего источника питания следует последовательно устанав- ливать напряжения UСИ сток-исток ПТ из интервала 0...10 В с шагом не более 0,5 В. При этом напряжение UСИ следует контролировать с помощью вольтметра. Для каждого установленного значения UСИ с помощью милли- амперметра PA2 измерить соответствующее значение тока стока IC . Установленные значения напряжений UСИ, а также соответствующие им измеренные значения тока стока IC занести в таблицу. Там же указать выбранное значение напряжения UЗИ = UЗИ0 . Полученная зависимость IC = = f(UСИ) при фиксированном UЗИ = UЗИ0 представляет одну из характери- стик семейства выходных ВАХ ПТ. Выбирая другое напряжение UЗИ = UЗИ0, аналогично получают другую ВАХ из этого семейства. 3. Методы измерения дифференциальных параметров ПТ По управляющим и выходным ВАХ транзистора можно определить его дифференциальные параметры. Рассмотрим методы определения крутизны S, входного сопротивления Ri и статического коэффициента усиления M. 3.1. Метод измерения крутизны транзистора Согласно (4), крутизна определяется как S = dIС / dUЗИ при UСИ = сonst. На практике крутизну S определяют как отношение малого приращения ΔIC → 0 тока стока IC к вызвавшему его малому приращению ΔUЗИ → 0 на- пряжения затвор-исток UЗИ при постоянном напряжении сток-исток UСИ. Пример нахождения приращений ΔIC и ΔUЗИ по графику управляющей ВАХ при заданных значениях UСИ = UСИ0 , UЗИ = UЗИ0 (в рабочей точке А) показан на рис. 5. Используя значения этих приращений, вычисляют кру- тизну ПТ по приближённой формуле S ≈ ΔIC / ΔUЗИ. Управляющая ВАХ яв- ляется нелинейной функцией, поэтому значение крутизны S зависит от ра- бочей точки (напряжений UСИ0 и UЗИ0). Для маломощных ПТ ток стока IC обычно выражают в [mA], а напря- жение UЗИ – в [В], поэтому крутизна S обычно выражается в [мА/В]. 3.2. Метод измерения выходного сопротивления транзистора Согласно (7), выходное сопротивление определяется как Ri = dUСИ / dIС при UЗИ = сonst. На практике выходное сопротивление Ri определяют как 31
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 29
- 30
- 31
- 32
- 33
- …
- следующая ›
- последняя »