Логические элементы. Охремчик С.А - 15 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ВГУ | Воронеж

Составители: 

Рубрика: 

15
Исследуйте состояние схемы при различных уровнях входного напря-
жения. Для этого на входы 1, 2, 9,
10 ЦИС D1 подавайте различные
уровни Х
1
, X
2
, Х
3
, X
4
в соответствии
с табл. 6. Для каждой комбинации
уровней из табл. 7 измерьте осцил-
лографом уровень выходного на-
пряжения Y на выводе 1 ЦИС D2 и
занесите его в табл. 7.
Замечание. Способ подачи уров-
ней логического 0 и 1 на входы
ЦИС D1 с помощью КЗП обсуждается в указании к п. 1.1 задания 1.
Проверьте соответствие теоретических результатов логической опера-
ции
4321
XXXXY ⋅+⋅= и измеренных уровней напряжения из табл. 7.
Задание 3. Измерение среднего времени задержки для элемента
ИЛИ-НЕ.
Метод измерения
. Среднее время t
З.СР
задержки распространения сиг-
нала от входа до выхода ЛЭ определяется с помощью измерения периода
колебаний T в схеме генератора треугольных импульсов, показанной на
рис. 9. Генератор состоит из нечетного числа n последовательно включен-
ных ЛЭ ИЛИ-НЕ, замкнутых в кольцо. В генераторе на рис. 9 используется
n = 3 элемента.
10
3
1
6
&
4
8
&
11
&
12
13
9
5
2
1
2
4
1
5
10
1
13
1
11
12
9
8
6
3
“0”
“0”
D1,
D2 к.7
“0”
D1
D2
GB1
D2 к.14
D1 к.14
&
1
КЗП
КЗП
КЗП
КЗП
КЗП
КЗП
“0”
Y
Х
1
Х
2
Х
3
Х
4
ОСЦ
КЗП
Таблица 7
X
1
X
2
X
3
X
4
Y
1 1 1 1
0 1 0 1
1 1 0 1
1 0 0 1
0 1 0 0
0 0 0 0
Рис. 8
                       D1 к.14        КЗП             D2 к.14
                                                                         GB1
 “0”   КЗП   Х1          D1                             D2
                   1                              2
                          &      3                       1      1    Y
                                      КЗП
 “0”   КЗП Х2      2                              3

                   4                              5
        D1,              &       6                       1      4
        D2 к.7     5                              6                       ОСЦ
       КЗП
 “0”               9                              8
             Х3           &      8                       1      10
 “0”   КЗП        10                              9
             Х4
                  12                             11
                         &       11                      1      13
                  13                             12
                                      КЗП

                                     Рис. 8
   Исследуйте состояние схемы при различных уровнях входного напря-
жения. Для этого на входы 1, 2, 9,
                                                                 Таблица 7
10 ЦИС D1 подавайте различные
                                           X1    X2     X3    X4       Y
уровни Х1, X2, Х3, X4 в соответствии
                                            1     1     1      1
с табл. 6. Для каждой комбинации
уровней из табл. 7 измерьте осцил-          0     1     0      1
лографом уровень выходного на-              1     1     0      1
пряжения Y на выводе 1 ЦИС D2 и             1     0     0      1
занесите его в табл. 7.                     0     1     0      0
   Замечание. Способ подачи уров-           0     0     0      0
ней логического 0 и 1 на входы
ЦИС D1 с помощью КЗП обсуждается в указании к п. 1.1 задания 1.
   Проверьте соответствие теоретических результатов логической опера-
ции Y = X1 ⋅ X 2 + X 3 ⋅ X 4 и измеренных уровней напряжения из табл. 7.
    Задание 3. Измерение среднего времени задержки для элемента
ИЛИ-НЕ.
    Метод измерения. Среднее время t З.СР задержки распространения сиг-
нала от входа до выхода ЛЭ определяется с помощью измерения периода
колебаний T в схеме генератора треугольных импульсов, показанной на
рис. 9. Генератор состоит из нечетного числа n последовательно включен-
ных ЛЭ ИЛИ-НЕ, замкнутых в кольцо. В генераторе на рис. 9 используется
n = 3 элемента.

                                      15

Страницы