ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
мкс мало (∼ 6), и флуктуации сигнала велики. За время T интегриро-
вания заряда на аноде ФЭУ (90 мкс) УФ выбивает с фотокатода
I
уф
SωT фотоэлектронов (ФЭЛ), где Sω = 0.024 см
2
стер. Эти ФЭЛ
создают на аноде ФЭУ сигнал с амплитудой
V
= I
уф
SωT V
1
, где V
1
−
амплитуда сигнала от одного ФЭЛ (при заданном напряжении на
ФЭУ). Отсюда, с учётом хорошо известного соотношения для сред-
неквадратичного отклонения σ =
V
(
V
/V
1
)
−0.5
, находим:
TS
V
I
уф
ω
σ
=
2
)/(
.
Рис. 5. Пример осциллограммы ДУФ с шагом 1 мкс (данные под
шифром D0) для 4 последовательных витков ИСЗ. По оси
абсцисс отложен номер измерения, по оси ординат
−
код
АЦП. На одном витке производится 256 измерений.
116
мкс мало (∼ 6), и флуктуации сигнала велики. За время T интегриро- вания заряда на аноде ФЭУ (90 мкс) УФ выбивает с фотокатода IуфSωT фотоэлектронов (ФЭЛ), где Sω = 0.024 см2стер. Эти ФЭЛ создают на аноде ФЭУ сигнал с амплитудой V = IуфSωT V1, где V1 − амплитуда сигнала от одного ФЭЛ (при заданном напряжении на ФЭУ). Отсюда, с учётом хорошо известного соотношения для сред- неквадратичного отклонения σ = V ( V /V1)−0.5, находим: (V / σ) 2 I уф = . S ωT Рис. 5. Пример осциллограммы ДУФ с шагом 1 мкс (данные под шифром D0) для 4 последовательных витков ИСЗ. По оси абсцисс отложен номер измерения, по оси ординат − код АЦП. На одном витке производится 256 измерений. 116
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 115
- 116
- 117
- 118
- 119
- …
- следующая ›
- последняя »