Основы проектирования электронных средств. Панков Л.Н - 228 стр.

UptoLike

227
7.2. Патентная чистота 0 0 0 0 0
Обобщенный показа-
тель патентно-
правовой группы
=
==
2
1
7
3,1
i
ii
mqQ ;
1,0
7
=
M
;
13,0
77
=MQ
Комплексный показа-
тель качества конст-
рукции
=
==
7
1
274,1
j
jj
MQQ
13.2. Расчет и оценка показателей качества ЭС
Для того чтобы рассчитать комплексный показатель качества раз-
работанной конструкции, необходимо подобрать аналог и выбрать ба-
зовое изделие, выбрать номенклатуру показателей качества конструк-
ции и заполнить карты технологического уровня качестве, В качестве
аналогов принимают реально существующие конструкции отечествен-
ной или зарубежной разработки того же класса, обладающие сходно-
стью назначения. Из существующих аналогов для оценки качества
разработанной конструкции выбирают базовое изделие, которое имеет
лучшие показатели на данный период, и их технологическая реали-
зуемость подтверждена реальным существованием базового изделия.
При разработке принципиально нового класса изделий бывают случаи,
когда нет должных аналогов. Тогда за базовые показатели принимают
заданные и технически реализуемые перспективные параметры. Вы-
бор номенклатуры показателей качества конструкции необходимо ог-
раничивать минимальным их количеством, обеспечивающим возмож-
ность сравнения по существенно влияющим для данного класса изде-
лий параметрам, весовые коэффициенты должны быть выбраны с уче-
том назначения, условий эксплуатации и производства применительно
к конкретному случаю. Предпочтительно выбирать показатели, харак-
теризующие простые свойства, которые оцениваются инженерным
расчетом конструкции, условий ее эксплуатации и производства.
Комплексные показатели сложных свойств, которые оценивают в
баллах методами экспертных оценок, накапливают субъективизм
оценки и поэтому их количество следует ограничивать важными для
разработанного изделия или отличающихся от базовых данных.
Обобщенные показатели качества Qi рассчитываются через qj ча-
стные показатели в группе оцениваемых параметров.