Информационно-измерительные системы. Парахуда Р.Н - 70 стр.

UptoLike

5.3. Проблемы и тенденции развития в области испытаний и поверки
ИИС.
Проблемы проведения испытаний СИ и ИИС тесно связаны с проблемами
их метрологической надежности, под которой понимается способность СИ
(ИИС) сохранять установленные значения МХ в течение заданного времени
при определенных режимах и условиях эксплуатации. Учитывая
уникальность каждой ИИС, проблема сводится к вопросу обеспечения
постоянного мониторинга за характером изменения МХ ИИС и ее
компонентов на месте эксплуатации ИИС, использование полученной при
этом информации для корректировки МПИ. Один из важных путей решения
этой задачиразвитие и совершенствование методов самокалибровки и
самодиагностики ИК ИИС.
Для многих ИИС характерен автономныйв метрологическом смысле
режим использования, когда не может быть реализована ее оперативная
связь с вышестоящими по поверочной схеме средствами. Автономный режим
использования ИИС является одним из источников проблемы
децентрализации в системе обеспечения единства измерений. Если для
традиционно используемых средств привязка к эталону означает, в конечном
итоге, перемещение к месту его дислокации, то для автономной ИИС
необходимо встречное движение эталона к месту ее размещения.
Соответственно необходима разработка и совершенствование
транспортируемых эталонов, необходимых для поверки и калибровки ИК
ИИС. При этом необходимо учитывать, что транспортируемые эталоны часто
будут использоваться в условиях, отличных от условий хранения и
применения эталонов в организациях ГМС и ГНМЦ. Вопросы о методиках и
необходимости использования транспортируемых эталонов должны быть
решены на стадиях разработки и испытаний ИИС.
При развитии ИИС проявляются общие тенденции в развитии
измерительной техники:
возрастание точности, расширение номенклатуры измеряемых величин и
измерительных задач, расширение диапазонов измерений;
обеспечение доступа потребителей к средствам измерений высшей
точности;
обеспечение измерений в условиях воздействияжестких внешних
факторов (высокая температура, большое давление, ионизирующее
излучение и т.д.)
Расширение номенклатуры измеряемых величин в рамках одной ИИС
приводит к необходимостипривязки ИИС к нескольким поверочным
схемам. Для решение вопросов самокалибровки необходимо наличие в
структуре ИИС встроенных эталонов, что приводит к росту требований по
точности к транспортируемым эталонам и практический выход в высшие
звенья поверочных схем.
71