Лазерная техника и технология. Поляков В.Е - 72 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

СЗТУ | Санкт-Петербург

Составители: 

Рубрика: 

73
появление тепловых свилей. Подобные эффекты растворов красителей
устраняются за счёт принудительной циркуляции раствора через кювету.
Однако даже в этом случае реальные лазеры требуют охлаждения ак-
тивной среды, что достигается одновременной прокачкой теплоносите-
ля, как, например, в лазерах типа ЛЖИ.
В случае твёрдых растворов красителей, т.е. красителей внедрён-
ных в полимерные
матрицы, нагрев матрицы приходит к аналогичным
эффектам. Во-первых, уменьшается квантовый выход люминесценции,
что приводит к уменьшению, а при существенном нагреве – к срыву ге-
нерации. Полимерные матрицы характеризуются также низкой тепло-
проводностью, и охлаждение их выливается в самостоятельную слож-
ную проблему.
Во-вторых, нагрев твердотельной полимерной матрицы приводит её
к
деформации, что обуславливает деформацию как самого пучка фото-
нов в резонаторе, так разъюстировку резонатора в процессе работы лазе-
ра.
В этой связи вопросы исследования деформационных свойств ла-
зерных элементов являются весьма важными и позволяют оптимизиро-
вать температурный режим работы лазерных элементов.
Как известно, деформации в твёрдом теле возникают в случае суще
-
ствования в нём напряжения. Такой случай часто реализуется в актив-
ных лазерных элементах, на основе активированных эпоксиполимеров в
процессе их полимеризации (образования сетчатого полимера) и в ре-
зультате механической обработки элементов (шлифовка, полировка и
т.п.).
Одним из способов, обеспечивающих релаксацию внутренних на-
пряжений, является отжиг.
Оптимизация технологического режима отжига
может быть осуще-
ствлена при исследовании деформационных свойств лазерных элемен-
тов при их нагревании.
Одним из эффективных методов для исследования деформационных
свойств лазерных элементов являются методы интерферометрии.
Применения интерференции очень важны и обширны. Интерферен-
ция света имеет самое широкое применение для измерения длины волны
излучения, исследования тонкой структуры спектральной линии, опре
-
деления плотности, показателей преломления и дисперсионных свойств
веществ, для измерения углов, линейных размеров деталей в длинах све-
товой волны, для контроля качества оптических систем. На использова-
нии интерференции света основано действие интерферометров и интер-
ференционных спектроскопов; метод голографии также основан на ин-
терференции света. Интерференцию поляризованных лучей широко ис-
пользуют
в кристаллооптике для определения структуры и ориентации

Страницы