Теоретические основы прогрессивных технологий. Попов В.Ф - 5 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ТГТУ | Тамбов

Составители: 

Рубрика: 

Контрольные вопросы
1 Законы сохранения.
2 Законы динамики.
3 Гармоническое колебательное движение и его уравнения.
4 Математический и физический маятники.
5 Вынужденные колебания. Резонанс.
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ
1 Савельев И. В. Курс физики. М.: Наука. 1989. Т. 1. С. 17 – 111.
Лабораторная работа № 2
ИЗУЧЕНИЕ ОПТИЧЕСКИХ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ ПРИБОРОВ И ЭЛЕКТРОННЫХ МИКРО-
СКОПОВ
Цель работы: изучить устройство и ознакомиться с работой на световых и электронных микроско-
пах.
Приборы и принадлежности: световые микроскопы на просвет и на отражение, просвечивающий
электронный микроскоп, объект-микрометр, окуляр-микрометр, образцы для наблюдения микрострук-
туры.
Часть 1 Изучение световых микроскопов
Методические указания
Световой микроскоп предназначен для формирования изображения структур, мелкие детали кото-
рых нельзя различить невооруженным глазом, и для измерения линейных размеров этих деталей. Для
этого видимое изображение должно быть увеличенным, достаточно контрастным и, кроме того, должно
обеспечивать правильное воспроизведение характерных осо-
бенностей рассматриваемых структур.
По принципу действия микроскопы делятся на
отражательные, просвечивающие и универсальные
(рис. 2.1).
В микроскопе на просвет исследуемый объект,
помещенный на предметный столик микроскопа,
освещают световым пучком. Свет частично рассеивается
на верхней и нижней по- верхностях образца, преломляется и
поглощается в его теле. Различие в оптических свойствах
отдельных участков объекта обусловливает разную
интенсивность прошедших через него лучей. В результате –
получается "теневое" изображение объекта.
В микроскопе на отражение контраст изображения
формируется за счет гашения или отражения света на
микронеровностях поверхности обычно непрозрачного объекта. Очевидно, что в этом случае на поли-
рованной гладкой поверхности нельзя различить детали микроструктуры. Поэтому при работе "на от-
ражение" объект специально приготавливают с целью создания микрорельефа, связанного с его внут-
ренним строением.
Одной из важнейших характеристик любой оптической системы, в том числе и микроскопа, являет-
ся увеличение М. В общем случае его можно определить по формуле
Рис. 2.1 Схема микроскопов на просвет (а)
и отражение (б):
1 – источник света; 2 – конденсор;
3 – объект; 4 – объектив; 5 – окуляр;
6 – полупрозрачное зеркало
а)
б)

Страницы