Физико-химические методы исследования почв (спектральный эмиссионный анализ почв). Протасова Н.А - 18 стр.

UptoLike

Рубрика: 

18
проекции спектра совпали с соответствующими линиями на
планшете . Штриховые указатели линий на атласе покажут нахождение
аналитических линий определяемых микроэлементов.
4. Найти в спектре почвенных проб аналитические линии указанной дли -
ны волны следующих элементов:
B 2497.73 Å V 3185.37 Å
Ti 2841.93 Å 2956.13 Å Cu 3273.96 Å
Mn 2949.20 Å Ni 3414.76 Å
Cr 3014.76 Å Co 3453.51 Å
5. По наличию или отсутствию аналитических линий установить присут-
ствие этих элементов в данных почвенных пробах.
6. Метод фотометрирования
Фотографический метод регистрации спектра и измерения интен-
сивности спектральных линий является основным при эмиссионном анали -
зе . Интенсивность линий можно измерить по почернению их изображений
на фотопластинке . Почернение определяют так же, как оптическую плот-
ность любого тела, поглощающего свет. Оптическую плотность обрабо-
танной пластинки называют плотностью почернения и обозначают буквой
S.
,lg
i
i
S
O
=
где i
O
интенсивность света , прошедшего через прозрачную часть
пластинки ;
i интенсивность света , прошедшего через спектральную линию.
6.1. Микрофотометр
Микрофотометры МФ-2 и МФ-4 предназначены для измерения
плотности почернения спектральных линий на пластинке .
Принцип действия: свет от лампы, пройдя фотометрируемый участок
фотопластинки , попадает на светочувствительный слой фотоэлемента ,
возбуждая в нем фототок. Ток от фотоэлемента поступает на гальванометр
и вызывает в нем поворот рамки с зеркалом, при этом на отсчетный экран
проектируются различные участки шкалы. Отклонение зеркала пропор-
ционально фототоку , возникающему , в фотоэлементе . Этот ток, в свою
очередь пропорционален световому потоку , падающему на фотоэлемент, а
величина светового потока зависит от оптической плотности фотометри -
руемого участка фотопластинки .
Оптическая схема . Оптическая система прибора состоит из двух
частей: фотометрической для проектирования светового пучка , прохо -
дящего фотометрируемый участок объекта , на светочувствительный слой
фотоэлемента и отсчетной для проектирования шкалы на матовый экран.
Источником света служит кинопроекционная лампа.
                                                 18
   п р о е кци и сп е ктр а со вп али с             со о тве тствую щ и ми ли ни ями на
   п ланш е те . Ш тр и хо вые указ    ате ли ли ни й на атласе п о каж утнахо ж де ни е
   анали ти ч е ски х ли ни й о п р е де ляе мых ми кр о эле ме нто в.
4. Найти в сп е ктр е п о ч ве нных п р о б анали ти ч е ски е ли ни и указ  анно й дли -
   ны во лны сле дую щ и х эле ме нто в:
       B              2497.73 Å                            V      3185.37 Å
       Ti             2841.93 Å 2956.13 Å                  Cu     3273.96 Å
       Mn             2949.20 Å                            Ni     3414.76 Å
       Cr             3014.76 Å                            Co     3453.51 Å
5. П о нали ч и ю и ли о тсутстви ю анали ти ч е ски х ли ни й устано ви ть п р и сут-
   стви е эти х эле ме нто в в данных п о ч ве нных п р о б ах.

                                 6. М етод ф отометрирования

        Фо то гр афи ч е ски й ме то д р е ги стр аци и сп е ктр а и и з      ме р е ни я и нте н-
си вно сти сп е ктр альныхли ни й являе тсяо сно внымп р и эми сси о нно манали -
зе . И нте нси вно сть ли ни й мо ж но и з    ме р и ть п о п о ч е р не ни ю и хи з о б р аж е ни й
на фо то п ласти нке . П о ч е р не ни е о п р е де ляю ттакж е , како п ти ч е скую п ло т-
но сть лю б о го те ла, п о гло щ аю щ е го све т. Оп ти ч е скую п ло тно сть о б р аб о -
танно й п ласти нки наз     ываю тп ло тно стью п о ч е р не ни я и о б о з     нач аю тб укво й
S.
                                                          iO
                                                 S = lg      ,
                                                           i
       где iO – и нте нси вно сть све та, п р о ш е дш е го ч е р е зп р о з  р ач ную ч асть
п ласти нки ;
        i – и нте нси вно сть све та, п р о ш е дш е го ч е р е зсп е ктр альную ли ни ю .

                                        6.1. М икроф отометр
          М и кр о фо то ме тр ы М Ф-2 и М Ф-4 п р е дназ            нач е ны для и з    ме р е ни я
п ло тно сти п о ч е р не ни ясп е ктр альных ли ни й на п ласти нке .
          П р и нци п де йстви я: све то тламп ы, п р о йдяфо то ме тр и р уе мый уч асто к
фо то п ласти нки , п о п адае т на све то ч увстви те льный сло й фо то эле ме нта,
во з б уж даяв не мфо то то к. Т о ко тфо то эле ме нта п о ступ ае тна гальвано ме тр
и выз     ывае тв не мп о во р о тр амки с з     е р кало м, п р и это мна о тсч е тный экр ан
п р о е кти р ую тся р аз     ли ч ные уч астки ш калы. Откло не ни е з         е р кала п р о п о р -
ци о нально фо то то ку, во з        ни каю щ е му, в фо то эле ме нте . Э то т то к, в сво ю
о ч е р е дь п р о п о р ци о нале н све то во му п о то ку, п адаю щ е му на фо то эле ме нт, а
ве ли ч и на све то во го п о то ка з    ави си т о т о п ти ч е ско й п ло тно сти фо то ме тр и -
р уе мо го уч астка фо то п ласти нки .
          Оп ти ч е ская схе ма. Оп ти ч е ская си сте ма п р и б о р а со сто и т и здвух
ч асте й: фо то ме тр и ч е ско й – для п р о е кти р о вани я све то во го п уч ка, п р о хо -
дящ е го фо то ме тр и р уе мый уч асто ко б ъе кта, на све то ч увстви те льный сло й
фо то эле ме нта и о тсч е тно й – дляп р о е кти р о вани яш калы на мато вый экр ан.
И сто ч ни ко мсве та служ и тки но п р о е кци о ннаяламп а.