ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
22
фотоэлементе . На логарифмической шкале отметить наибольшее
значение почернения. Отсчет сделать три раза , передвигая изображение
линии с разных сторон. Из отсчета берут среднее значение. Измерить по-
чернение линии во всех 9-ти ступеньках.
Для построения характеристической кривой данной пластинки необ-
ходимо по оси абсцисс отложить значение логарифмов пропускания света
для каждой из ступенек (2.0; 1.83; 1.70; 1.53; 1.36; 1.20; 1.04; 0.90; 2.0), а по
оси ординат – значения почернений, измеренные на микрофотометре. На
полученной кривой найти области недодержек, нормальных почернений и
передержек.
2. Для построения кривых испарения элементов из почвы надо изме -
рить почернения аналитических линий каждого элемента в спектре, снятом
на движущейся пластинке .
По оси абсцисс отложить время сжигания пробы в секундах, на оси
ординат – значения почернений. Построить кривые испарения B, Mn, Ti,
Cr, V, Cu, Ni и сделать вывод о характере и скорости испарения этих эле-
ментов из почвы.
Определите время экспозиции для съемки спектров почв.
7. Количественный спектральный анализ почв на
микроэлементы по методу трех эталонов
Количественный спектральный анализ основан на зависимости меж-
ду интенсивностью спектральных линий определяемого элемента и кон-
центрацией его атомов в источниках света . Эта зависимость выражается
формулой:
I=ac
b
, где I – интенсивность линии, с – концентрация элемента в
пробе, а, b – константы , зависящие от свойств источника света и аналити -
ческих линий. Чем больше содержание данного элемента , тем интенсивнее
его линии в спектре.
Определение содержания элементов в почвенных образцах основано
на сравнении интенсивностей их спектральных линий с интенсивностями
тех же линий в спектрах специально приготовленных эталонов.
Задание 6.
Количественно определить содержание B, Mn, Ti, Cr, V, Cu, Ni в
почвенных образцах.
1. В 3-х кратной повторности произвести сжигание почвенных проб и
эталонов и фотографирование их спектров в следующих условиях: ши-
рина щели – 0.01 мм, ее высота – 1 мм, вырез револьверной диафрагмы
– 3.2 мм, сила тока – 18 а, время экспозиции – 2 мин. Расстояние между
электродами – 2 мм.
2. На эту же пластинку сфотографировать спектр железа .
3. Идентификацию линий в спектрах почв и эталонов произвести на спек-
тропроекторе с помощью атласа и таблиц спектральных линий.
22
фо то эле ме нте . На ло гар и фми ч е ско й ш кале о тме ти ть наи б о льш е е
знач е ни е п о ч е р не ни я. Отсч е т сде лать тр и р аз а, п е р е дви гая и зо б р аж е ни е
ли ни и с р аз ных сто р о н. И зо тсч е та б е р утср е дне е з нач е ни е . И зме р и ть п о -
ч е р не ни е ли ни и во все х 9-ти ступ е ньках.
Дляп о стр о е ни яхар акте р и сти ч е ско й кр и во й данно й п ласти нки не о б -
хо ди мо п о о си аб сци сс о тло ж и ть з нач е ни е ло гар и фмо в п р о п ускани я све та
длякаж до й и зступ е не к(2.0; 1.83; 1.70; 1.53; 1.36; 1.20; 1.04; 0.90; 2.0), а п о
о си о р ди нат– з нач е ни я п о ч е р не ни й, и з ме р е нные на ми кр о фо то ме тр е . На
п о луч е нно й кр и во й найти о б ласти не до де р ж е к, но р мальных п о ч е р не ни й и
п е р е де р ж е к.
2. Дляп о стр о е ни якр и вых и сп ар е ни яэле ме нто в и зп о ч вы надо и з ме -
р и ть п о ч е р не ни яанали ти ч е ски хли ни й каж до го эле ме нта в сп е ктр е , снято м
на дви ж ущ е йсяп ласти нке .
П о о си аб сци сс о тло ж и ть вр е мя сж и гани я п р о б ы в се кундах, на о си
о р ди нат – з нач е ни я п о ч е р не ни й. П о стр о и ть кр и вые и сп ар е ни я B, Mn, Ti,
Cr, V, Cu, Ni и сде лать выво д о хар акте р е и ско р о сти и сп ар е ни я эти х эле -
ме нто в и зп о ч вы.
Оп р е де ли те вр е мяэксп о з и ци и длясъе мки сп е ктр о в п о ч в.
7. К олич ественны й спектральны й анализ поч в на
микроэлементы по метод у трех эталонов
Ко ли ч е стве нный сп е ктр альный анали зо сно ван на з ави си мо сти ме ж -
ду и нте нси вно стью сп е ктр альных ли ни й о п р е де ляе мо го эле ме нта и ко н-
це нтр аци е й е го ато мо в в и сто ч ни ках све та. Э та з ави си мо сть выр аж ае тся
фо р муло й:
I=acb, где I – и нте нси вно сть ли ни и , с – ко нце нтр аци я эле ме нта в
п р о б е , а, b – ко нстанты, з ави сящ и е о тсво йств и сто ч ни ка све та и анали ти -
ч е ски х ли ни й. Ч е мб о льш е со де р ж ани е данно го эле ме нта, те ми нте нси вне е
е го ли ни и в сп е ктр е .
Оп р е де ле ни е со де р ж ани яэле ме нто в в п о ч ве нных о б р аз цах о сно вано
на ср авне ни и и нте нси вно сте й и х сп е ктр альных ли ни й с и нте нси вно стями
те х ж е ли ни й в сп е ктр ах сп е ци ально п р и го то вле нных этало но в.
Задани е 6.
Ко ли ч е стве нно о п р е де ли ть со де р ж ани е B, Mn, Ti, Cr, V, Cu, Ni в
п о ч ве нных о б р аз цах.
1. В 3-х кр атно й п о вто р но сти п р о и з ве сти сж и гани е п о ч ве нных п р о б и
этало но в и фо то гр афи р о вани е и х сп е ктр о в в сле дую щ и х усло ви ях: ш и -
р и на щ е ли – 0.01 мм, е е высо та – 1 мм, выр е зр е во льве р но й ди афр агмы
– 3.2 мм, си ла то ка – 18 а, вр е мяэксп о з и ци и – 2 ми н. Рассто яни е ме ж ду
эле ктр о дами – 2 мм.
2. На эту ж е п ласти нку сфо то гр афи р о вать сп е ктр ж е ле з а.
3. И де нти фи каци ю ли ни й в сп е ктр ах п о ч в и этало но в п р о и з ве сти на сп е к-
тр о п р о е кто р е с п о мо щ ью атласа и таб ли ц сп е ктр альных ли ни й.
