ВУЗ:
Рубрика:
15.Укажите основные причины уширения узлов обратной решетки на рентгенограммах.
16.Выведите основные методы наблюдения дифракции рентгеновских лучей из анализа
уравнения Вульфа-Брегга.
17.Что такое рентгеновская дифрактометрия?
18.Поясните взаимосвязь прямого и обратного пространства.
19.Что такое области когерентного рассеяния?
20.Можете ли вы на простой модели пояснить суть эффектов дифракции и возникновение
интерференционной картины за объектом (твердым телом)?
III. Распределение часов курса по темам и видам работ
Аудиторные занятия (час)
в том числе
№
пп
Наименование
темы
Всего
часов
лекции семинары
лаборатор.
занятия
Самостоя-
тельная
работа
1
Физика рентгеновского
излучения
4 4
2
Кинематическая теория
рассеяния лучей в
кристаллах
10 8 2
3 Методы наблюдения
дифракции
рентгеновских лучей
6 4 2
4 Отражательная
способность
кристалла
6 4 2
5 Анализ профиля
рентгеновской линии
8 6 2
6 Методы определения
размеров ОКР и
микронапряжений
решетки
6 4 2
7
Метод прецизионного
определения
параметров решетки
2 2
8
Определение
ориентировки
монокристаллов
2 2
ИТОГО 44 34 10
IV. Форма итогового контроля
Теоретический зачет
V. Учебно-методическое обеспечение курса
1. Рекомендуемая литература (основная):
1. Савицкая Л.К. Рентгеноструктурный анализ. Курс лекций, ч. 1. – Томск: изд-во Томского
ун-та, 1982. – 172 с.
2. Савицкая Л.К. Рентгеноструктурный анализ. Курс лекций, ч. 2. – Томск: изд-во Томского
ун-та, 1990. – 157 с.
3. Бублин В.
Т., Дубровина А.Н. Методы исследования структуры полупроводников и ме-
таллов. – М.: Металлургия, 1978. – 272 с.
