Теория измерений. Точность средств измерений. Романов В.Н. - 118 стр.

UptoLike

Составители: 

)exp( (( )/ )
c
б
Pxab=− , (4.3.4)
где a, b, cпараметры распределения. При расчетах полагалось
a=0, b>1, c>1, что соответствует реальным условиям
эксплуатации СИ. Результаты расчетов приведены в табл.4.
Таблица 4
Вероятность отказов СИ (расчет по распределению Вейбулла)
c
х , год
b
1,2 1,5 2 5 7
2
3
4
5
2
0,6
0,8
0,89
0,95
0,6
0,84
0,94
0,98
0,6
0,84
0,94
0,98
0,6
0,99
1
1
0,6
1
1
1
2
3
4
5
5
0,28
0,41
0,53
0,6
0,22
0,37
0,51
0,6
0,14
0,30
0,46
0,6
0,01
0,07
0,28
0,6
0
0,03
0,2
0,6
2
3
4
5
7
0,18
0,29
0,39
0,48
0,15
0,22
0,37
0,39
0,06
0,15
0,27
0,3
0
0,01
0,08
0,27
0
0
0,02
0,16
Отметим, что распределение Вейбулла можно рассматривать
как отрицательное экспоненциальное, в котором параметр
λ
зависит от
х (учет износа), причем
λ
= х
c-1
/b
c
. С использованием
данных табл.3 оценим вероятность отказов для двух типов СИ,
работающих в разных режимах: циклически и непрерывно
(например, в системах управления, следящих системах). Для
циклических СИ параметр
λ изменяется в пределах
λ
ц
=0,006…0,03, а для непрерывныхв пределах
λ
н
=0,02…0,1 (в
зависимости от условий эксплуатации). Расчеты дают значение
вероятности отказов: для циклических СИ
P
0ц
= 0,03…0,14; для
непрерывных
P
0н
= 0,1…0,39 (расчеты проведены для значения
х=5 лет, то есть межповерочный интервал принят равным 5 лет.
Как видно из расчетов, вероятность отказов у циклических СИ