Составители:
Рубрика:
9
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП
ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ
МИКРОСТРУКТУРЫ ПОВЕРХНОСТИ
В.В. Лычагов, В.П. Рябухо, А.Л. Кальянов
Цель работы: изучение устройства и принципа работы интерференцион-
ного микроскопа в когерентном и частично когерентном свете, ознакомление с
методами исследования качества поверхностей и микроструктуры прозрачных
слоистых объектов, сочетающими принципы микроскопии и оптической ин-
терферометрии.
ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ ЧАСТЬ
Обычный
световой микроскоп позволяет наблюдать увеличенное во мно-
го раз изображение поверхности исследуемого объекта. Схема простейшего
светового микроскопа приведена на рис. 1. В этой схеме объект наблюдения
Obj располагается в фокальной плоскости микрообъектива MO, который фор-
мирует промежуточное изображение объекта в бесконечности. Чтобы наблюда-
тель мог увидеть это изображение, требуется дополнительная, тубусная линза
L2 и
окуляр O.
Освещение объекта в микроскопе может осуществляться различными
способами, один из них, примененный в схеме на рис. 1, заключается в том, что
объект освещается непосредственно через микрообъектив MO, посредством ко-
торого наблюдается изображение объекта (так называемый опак-иллюминатор).
Для этого в оптический тракт микроскопа вводится светоделительная пластина
или кубик BS. Полупрозрачная грань этого
кубика ориентирована таким обра-
зом, что отражает часть света, идущего от источника S, в направлении микро-
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 8
- 9
- 10
- 11
- 12
- …
- следующая ›
- последняя »
