Изучение зольности угольных пластов по данным геофизических исследований скважин. Селиванова Т.В. - 22 стр.

UptoLike

Составители: 

Рубрика: 

22
няемых скважинных приборов, они должны составляться в пределах каждого
исследуемого геолого-геофизического участка или ступени.
Для определения зольности угольных пластов диаграммы плотностного
метода точно так же, как и диаграммы селективного каротажа, разделяются на
интервалы, в пределах которых интенсивность рассеянного гамма-излучения
принимается постоянной. Взятие отсчета на диаграмме J
γγn
и определение ве-
личин амплитуд производится в полной аналогии с тем, как это делается на
диаграммах J
γγс
.
J
от
Пγγ
А , %
d
0,4
0
20
40
60
80
100
0,8
1,2
1,6
2,0
Рис.20. График корреляционной связи относительного параметра J
от
nγγ
c зольностью А
α
угольных пластов
В величину интенсивности рассеянного гамма-излучения в пачках (про-
слоях), мощность которых меньше длины зонда, вводятся поправки на мощ-
ность, на скорость регистрации диаграмм и инерционность применяемой аппа-
ратуры. Значение поправок находится по специальным палеткам, представлен-
ным на рис.21.
Палетка поправочного коэффициента К за инерционность аппаратуры и
скорость подъема снаряда составлена по данным скважинных измерений на
пластах различной мощности. Она представляет семейство графиков зависимо-
сти К
w
=f(w) (шифр кривых). Поправочный коэффициент K
w
численно равен от-
ношению аномалии рассеянного гамма-излучения в пласте при w=0 (непод-
вижный прибор) к значению аномалии интенсивности при w0:
К
w
=
)0(
)0(
=
wJ
wJ
n
n
γγ
γγ
. (8)
Поправочный коэффициент К
w
вводится, когда параметр регистрации
диаграмм w=vτ превышает 90 мс/ч. Величина коэффициента определяется как
ордината палетки по известным значениям параметра регистрации w и мощно-
сти пласта (шифр кривых) (рис.21, а).
няемых скважинных приборов, они должны составляться в пределах каждого
исследуемого геолого-геофизического участка или ступени.
     Для определения зольности угольных пластов диаграммы плотностного
метода точно так же, как и диаграммы селективного каротажа, разделяются на
интервалы, в пределах которых интенсивность рассеянного гамма-излучения
принимается постоянной. Взятие отсчета на диаграмме Jγγn и определение ве-
личин амплитуд производится в полной аналогии с тем, как это делается на
диаграммах Jγγс.
                     J γγотП


                   2,0

                    1,6

                    1,2

                    0,8

                   0,4
                                                                         А,%
                                                                         d


                          0      20     40         60      80      100

                                                                               от
         Рис.20. График корреляционной связи относительного параметра J γγn
                              c зольностью Аα угольных пластов

      В величину интенсивности рассеянного гамма-излучения в пачках (про-
слоях), мощность которых меньше длины зонда, вводятся поправки на мощ-
ность, на скорость регистрации диаграмм и инерционность применяемой аппа-
ратуры. Значение поправок находится по специальным палеткам, представлен-
ным на рис.21.
      Палетка поправочного коэффициента К за инерционность аппаратуры и
скорость подъема снаряда составлена по данным скважинных измерений на
пластах различной мощности. Она представляет семейство графиков зависимо-
сти Кw=f(w) (шифр кривых). Поправочный коэффициент Kw численно равен от-
ношению аномалии рассеянного гамма-излучения в пласте при w=0 (непод-
вижный прибор) к значению аномалии интенсивности при w≠0:
                                             ∆J γγn ( w = 0)
                                       Кw=                     .                    (8)
                                             ∆J γγn ( w ≠ 0)
      Поправочный коэффициент Кw вводится, когда параметр регистрации
диаграмм w=vτ превышает 90 м⋅с/ч. Величина коэффициента определяется как
ордината палетки по известным значениям параметра регистрации w и мощно-
сти пласта (шифр кривых) (рис.21, а).



                                              22