Рентгенофлуоресцентный анализ объектов окружающей среды. Ширкин Л.А. - 18 стр.

                                  17

   Рис. 2.3. Спектр фонового излучения спектрометра 1-го порядка
отражения: аппаратные линии Cu в первом порядке




   Рис. 2.4. Спектр фонового излучения спектрометра 2-го порядка
отражения: аппаратные линии Cu и линии когерентного и некогерентного
рассеяния материала анода (Ag) во втором порядке

   На спектре 1-го порядка отражения рассматриваются элементы, чьи
спектральные линии имеют очень высокую интенсивность I > 30000
имп./с, так как для данных элементов возможно появление линий-
сателитов на спектрах 1-го и 2-го порядка отражения на кратных длинах
волн (λ/2, 2λ и др.). Появление этих «мешающих» линий необходимо
учитывать, так как они могут оказаться вблизи длин волн, являющихся
характеристическими для других элементов.
   Следует также принимать во внимание, что прямой качественный
анализ на присутствие в образце элементов Ag и Cu невозможен.
Поскольку медь и серебро присутствуют в составе материалов
рентгеновской трубки спектрометра «СПЕКТРОСКАН МАКС G», то
характеристические линии этих элементов всегда будут присутствовать в
спектрах анализируемых образцов (рис. 2.3, 2.4). Поэтому, чтобы дать
заключение о присутствии в них Ag и Cu, необходимо провести
дополнительные измерения. Для этого рентгеноспектральному анализу
подвергаются образцы спектрально чистые по Ag и Cu, но с идентичной по
составу матрицей. Впоследствии спектры анализируемых и чистых (в
отношении Ag и Cu) образцов сравниваются по интенсивности излучения в
областях характеристических линий меди и серебра. Если интенсивности
характеристических линий Ag и Cu в анализируемых образцах принимают