Рентгенофлуоресцентный анализ объектов окружающей среды. Ширкин Л.А. - 54 стр.

UptoLike

Составители: 

53
Последнее условие не всегда соблюдается точно, поэтому желательно
выбирать λ
j
= λ
i
, либо выбирать для коррекции λ
j
, расположенную недалеко
от λ
i
.
Матрица
Специальный термин для обозначения химического состава пробы.
Рентгеновское излучение проникает на некоторую глубину в образце, и
расстояние от образца до трубки надо отсчитывать не от его
геометрической поверхности, а от некоторой эффективной плоскости,
проходящей в толще рабочего слоя. Глубина рабочего слоя зависит от
жесткости излучения (длины волны) и от тяжести матрицы чем меньше
средний атомный номер элементов, составляющих пробу и чем короче
длина волны аналитической линии, тем этот слой глубже. По «тяжести»
матрицы разделяют на три группы:
лѐгкие матрицы: нефтепродукты, водные растворы, органика,
биологические объекты;
средние матрицы: алюминиевые сплавы, горные породы, силикаты,
цементы;
тяжѐлые матрицы: стали, сплавы меди и других тяжелых металлов,
руда.
В количественном анализе какого-либо продукта матрица может
немного отличаться от пробы к пробе. Изменение матрицы влияет на
интенсивность аналитической линии даже при одной и той же
концентрации анализируемого элемента. В режиме количественного
анализа эффект матрицы компенсируется, используя свойство
некогерентно рассеянного излучения материала анода рентгеновской
трубки сильно изменять свою интенсивность при незначительном
изменении состава матрицы.
Продукт
Анализируемое вещество, отличающееся от других рядом присущих
только ему характеристик:
физическим состоянием (порошок, жидкость, твѐрдое тело);
набором составляющих его химических элементов (компонентов)
или другими физико-химическими параметрами, которые могут быть
аналитами;
диапазонами изменения значений аналитов;
                                   53

    Последнее условие не всегда соблюдается точно, поэтому желательно
выбирать λj = λi, либо выбирать для коррекции λj, расположенную недалеко
от λi.

   Матрица
   Специальный термин для обозначения химического состава пробы.
Рентгеновское излучение проникает на некоторую глубину в образце, и
расстояние от образца до трубки надо отсчитывать не от его
геометрической поверхности, а от некоторой эффективной плоскости,
проходящей в толще рабочего слоя. Глубина рабочего слоя зависит от
жесткости излучения (длины волны) и от тяжести матрицы – чем меньше
средний атомный номер элементов, составляющих пробу и чем короче
длина волны аналитической линии, тем этот слой глубже. По «тяжести»
матрицы разделяют на три группы:
   – лѐгкие матрицы: нефтепродукты, водные растворы, органика,
      биологические объекты;
   – средние матрицы: алюминиевые сплавы, горные породы, силикаты,
      цементы;
   – тяжѐлые матрицы: стали, сплавы меди и других тяжелых металлов,
      руда.
   В количественном анализе какого-либо продукта матрица может
немного отличаться от пробы к пробе. Изменение матрицы влияет на
интенсивность аналитической линии даже при одной и той же
концентрации анализируемого элемента. В режиме количественного
анализа эффект матрицы компенсируется, используя свойство
некогерентно рассеянного излучения материала анода рентгеновской
трубки сильно изменять свою интенсивность при незначительном
изменении состава матрицы.

   Продукт
   Анализируемое вещество, отличающееся от других рядом присущих
только ему характеристик:
   – физическим состоянием (порошок, жидкость, твѐрдое тело);
   – набором составляющих его химических элементов (компонентов)
     или другими физико-химическими параметрами, которые могут быть
     аналитами;
   – диапазонами изменения значений аналитов;