ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
8
Число импульсов, зарегистрированное за установленное время
экспозиции пропорционально содержанию соответствующего химического
элемента в образце, и, в зависимости от конкретной аналитической задачи,
может быть пересчитано по различным методикам в процент
концентрации или массовую долю элемента в образце. Однако при анализе
необходимо учитывать следующие факторы.
Кванты рентгеновского излучения, пройдя сквозь окно трубки,
«освещают» на поверхности образца зону около 10 мм в диаметре.
Глубина проникновения излучения в толщу образца зависит от его
материала. Чем больше средний атомный номер материала, тем на
меньшую глубину проникает возбуждающее излучение. Глубина
проникновения для тяжелых матриц (металлические сплавы) измеряется
долями миллиметра, для средних (геологические объекты, алюминиевые
сплавы) – 1 – 2 мм, а для легких (водные растворы, нефтепродукты) – до
нескольких миллиметров. Это и есть рабочий слой, с которого снимается
информация, остальной объем пробы в анализе не участвует.
Кроме того, надо иметь в виду, что возникающее в этом слое
флуоресцентное излучение еще должно выйти из образца и попасть в
спектрометр. При выходе из образца оно точно так же поглощается, как и
первичное излучение, причем более мягкие (длинноволновые) линии
гораздо сильнее, чем жесткие (коротковолновые). Длина волны
флуоресцентного излучения увеличивается с уменьшением атомного
номера соответствующего элемента, поэтому, чем легче интересующий
химический элемент, тем с меньшей глубины образца его излучение
способно выйти. Таким образом, толщина рабочего слоя образца для более
легких элементов меньше, чем значения, указанные выше.
И, наконец, с поверхности образца ретгенофлуоресцентное излучение
распространяется во все стороны. Большая его часть поглощается
деталями защиты, и лишь небольшая его часть через приѐмную щель
попадает внутрь спектрометра. На пути этого пучка под определенным
углом установлен фокусирующий кристалл-анализатор.
Тем не менее, спектрометр свою задачу выполняет, а именно:
анализируемый образец возбуждается в рентгеновском диапазоне,
полученное излучение разлагается в спектр, а линии элементов,
составляющих образец, идентифицируются и измеряются их
интенсивности.
8 Число импульсов, зарегистрированное за установленное время экспозиции пропорционально содержанию соответствующего химического элемента в образце, и, в зависимости от конкретной аналитической задачи, может быть пересчитано по различным методикам в процент концентрации или массовую долю элемента в образце. Однако при анализе необходимо учитывать следующие факторы. Кванты рентгеновского излучения, пройдя сквозь окно трубки, «освещают» на поверхности образца зону около 10 мм в диаметре. Глубина проникновения излучения в толщу образца зависит от его материала. Чем больше средний атомный номер материала, тем на меньшую глубину проникает возбуждающее излучение. Глубина проникновения для тяжелых матриц (металлические сплавы) измеряется долями миллиметра, для средних (геологические объекты, алюминиевые сплавы) – 1 – 2 мм, а для легких (водные растворы, нефтепродукты) – до нескольких миллиметров. Это и есть рабочий слой, с которого снимается информация, остальной объем пробы в анализе не участвует. Кроме того, надо иметь в виду, что возникающее в этом слое флуоресцентное излучение еще должно выйти из образца и попасть в спектрометр. При выходе из образца оно точно так же поглощается, как и первичное излучение, причем более мягкие (длинноволновые) линии гораздо сильнее, чем жесткие (коротковолновые). Длина волны флуоресцентного излучения увеличивается с уменьшением атомного номера соответствующего элемента, поэтому, чем легче интересующий химический элемент, тем с меньшей глубины образца его излучение способно выйти. Таким образом, толщина рабочего слоя образца для более легких элементов меньше, чем значения, указанные выше. И, наконец, с поверхности образца ретгенофлуоресцентное излучение распространяется во все стороны. Большая его часть поглощается деталями защиты, и лишь небольшая его часть через приѐмную щель попадает внутрь спектрометра. На пути этого пучка под определенным углом установлен фокусирующий кристалл-анализатор. Тем не менее, спектрометр свою задачу выполняет, а именно: анализируемый образец возбуждается в рентгеновском диапазоне, полученное излучение разлагается в спектр, а линии элементов, составляющих образец, идентифицируются и измеряются их интенсивности.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 7
- 8
- 9
- 10
- 11
- …
- следующая ›
- последняя »