ВУЗ:
Составители:
112
Экзаменационные вопросы
1. Понятие «измерение». Структурные схемы средств измерений.
2. Виды измерений. Виды погрешностей измерений и источники их появления.
3. Погрешности косвенных измерений. Систематические погрешности. Слу-
чайные погрешности.
4. Классификация средств измерений.
5. Статические характеристики средств измерений.
6. Динамические характеристики средств измерений.
7. Погрешности средств измерений. Нормирование метрологических характе-
ристик.
8. Автоматизированные информационные системы. Государственная система
приборов и агрегатные комплексы.
9. Основные структуры автоматизированных измерительных систем.
10. Основные этапы проектирования приборов и ИИС.
11. Цикл проектирования системы. Язык проектирования.
12. Требования пользователей и функциональная спецификация.
13. Выбор чувствительного элемента.
14. Выбор метода измерения и формирование структурной схемы.
15. Методы расчета статических характеристик.
16. Методы расчета динамических характеристик.
17. Оптимизация параметров приборов и систем.
18. Определение погрешностей измерительного звена по его расчетной харак-
теристике.
19. Определение погрешностей прибора по структурной схеме.
20. Расчет допусков на погрешность прибора.
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 110
- 111
- 112
- 113
- 114
- …
- следующая ›
- последняя »
