Проектирование приборов, систем и измерительно-вычислительных комплексов. Шивринский В.Н. - 95 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

УлГТУ | Ульяновск

Составители: 

Рубрика: 

95
Каждый МХ имеет необходимые средства для нормализации, коммутиро-
вания и аналого-цифрового преобразования. Такой модуль может быть исполь-
зован также в любом другом КПИ при условии обеспечения совместимости по
магистрали. В состав МХ может быть введена однокристальная микроЭВМ для
выполнения функционального преобразования.
Субкомплексы с программируемой структурой
В общем виде объект испытаний, оснащенный при необходимости преобра-
зователями неэлектрических величин в электрические и электрических величин
в неэлектрические воздействия, представляет собой совокупность электриче-
ских входов и выходов.
Испытательная процедура заключается: 1) в выдаче на соответствующие
входы заранее известной совокупности электрических воздействий, изменяю-
щихся по известным законам; 2) в измерении на соответствующих выходах
электрических величин; 3) в первичной обработке полученной информации, за-
ключающейся в функциональных преобразованиях, коррекциях; 4) вычислении
(при косвенных измерениях) совокупностей значений измеряемых величин;
5) вторичной обработке измерительной информации с целью получения обоб-
щенных результатов испытательной процедуры и представления этих результа-
тов в требуемой форме.
Комплексная испытательная процедура – это совокупность различных ис-
пытательных процедур, имеющая конечной целью получение всех необходи-
мых сведений об объекте на данном этапе испытаний. В зависимости от коли-
чества входов и выходов объекта, скорости протекания процессов, объемов
первичной измерительной информации, сложности вторичной обработки, ха-
рактера и объемов представления результатов, выполнение комплексных испы-
тательных процедур возможно на уровне автономных субкомплексов с про-
граммируемой структурой (СПС), на уровне ИВК, на уровне ИИС.
Рассмотрим выполнение испытательной процедуры во времени, по сово-
купности входов и выходов объекта. Работа однопроцессорного устройства
происходит путем последовательного выполнения элементарных операций,
синхронизированных с тактовой частотой задающего генератора. Следователь-
но, состояние шин магистралей изменяется через некоторые конечные проме-
жутки времени.
Любая измерительная процедура занимает во времени определенный ко-
нечный интервал. Длительность такого интервала зависит как от скорости и ко-
личества операций, выполняемых на магистралях и внутри процессора, так и от
скорости выполнения операций аналоговыми и цифровыми устройствами изме-
рительной части. Ввиду того, что тактовая частота задающего генератора дос-
таточно велика, время выполнения программ управления и обмена информаци-
ей, первичной обработки, иногда существенно меньше, чем время выполнения
измерительных операций. Кроме того, сам алгоритм испытательной процедуры
может допускать наличие некоторых временных задержек между отдельными
действиями СПС (при медленно протекающих процессах).

Страницы