ВУЗ:
Составители:
РПД МСК 200500. ДС.02– 2007
9
2.8 Примеры метрологического анализа контрольно-измерительных
устройств
Анализ и построение структурной и математической метрологической модели
контрольно-измерительных устройств по п. 1.7.
3 Применение методологии функционального и метрологического
анализа для оценивания качества процессов
Декомпозиция технологических и других процессов. Сеть процессов и
аналогия с цепью звеньев.
Отклонение реальных характеристик процессов от номинальных. Допуски
на
отклонение характеристик и аналогия с погрешностями звеньев.
Оценивание технологического процесса через отклонения характеристик
от номинальных функций и их параметров.
7.2 Форма проведения занятий
Традиционная. Использование демонстрационных плакатов
7.3 Материально-техническое обеспечение
Не предусмотрено
8 Практические занятия
8.1 Основные темы
Составление алгоритма разработки моделей измерительных устройств.
Разложение на типовые функциональные звенья заданного вида измеритель-
ного устройства.
Построение функциональных моделей измерительных каналов.
Разработка модели электронного измерительного модуля (на примере стаби-
лизатора).
Линеаризация функции
преобразования устройств с нелинейными звеньями.
Построение моделей устройств, предназначенных для альтернативного кон-
троля.
Разложение погрешности функции преобразования на составляющие. Степен-
ные ряды. Выбор аппроксимирующей прямой.
Применение методов суммирования погрешностей.
Метрологический анализ на схемотехническом уровне.
Метрологический анализ на функциональном и модульном уровнях.
Построение "профиля кванта", расчет дифференциальной нелинейности и чи-
словых характеристик
погрешности в заданной точке диапазона.
9 Лабораторные занятия
Не предусмотрены
10 Семинарские занятия
Не предусмотрены
РПД МСК 200500. ДС.02– 2007
2.8 Примеры метрологического анализа контрольно-измерительных
устройств
Анализ и построение структурной и математической метрологической модели
контрольно-измерительных устройств по п. 1.7.
3 Применение методологии функционального и метрологического
анализа для оценивания качества процессов
Декомпозиция технологических и других процессов. Сеть процессов и
аналогия с цепью звеньев.
Отклонение реальных характеристик процессов от номинальных. Допуски
на отклонение характеристик и аналогия с погрешностями звеньев.
Оценивание технологического процесса через отклонения характеристик
от номинальных функций и их параметров.
7.2 Форма проведения занятий
Традиционная. Использование демонстрационных плакатов
7.3 Материально-техническое обеспечение
Не предусмотрено
8 Практические занятия
8.1 Основные темы
Составление алгоритма разработки моделей измерительных устройств.
Разложение на типовые функциональные звенья заданного вида измеритель-
ного устройства.
Построение функциональных моделей измерительных каналов.
Разработка модели электронного измерительного модуля (на примере стаби-
лизатора).
Линеаризация функции преобразования устройств с нелинейными звеньями.
Построение моделей устройств, предназначенных для альтернативного кон-
троля.
Разложение погрешности функции преобразования на составляющие. Степен-
ные ряды. Выбор аппроксимирующей прямой.
Применение методов суммирования погрешностей.
Метрологический анализ на схемотехническом уровне.
Метрологический анализ на функциональном и модульном уровнях.
Построение "профиля кванта", расчет дифференциальной нелинейности и чи-
словых характеристик погрешности в заданной точке диапазона.
9 Лабораторные занятия
Не предусмотрены
10 Семинарские занятия
Не предусмотрены
9
