Технология и автоматизация производства электронной аппаратуры. Скубилин М.Д - 228 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ТТИ ЮФУ | Таганрог

Составители: 

Рубрика: 

228
где С
к
– стоимость контроля одной детали; К
1
– доля брака, пропущенного при
100% контроле, а при выборочном контроле
C
0
″=P
A
[C
k
+(N-n)PC
p
+nK
2
PC
p
]+[nC
k
(1-P
A
)]/P
A
, (25.10)
где Р
А
– вероятность приемки партии из N деталей по контролю выборки n де-
талей; (N-n)PC
p
– стоимость замены бракованных изделий из неконтролируе-
мой части партии; nK
2
PC
p
– стоимость замены бракованных деталей из подкон-
трольной части партии, пропущенных контролем; nC
k
– стоимость контроля
выборки из n элементов; (1-P
A
) – вероятность отбраковки.
По (25.8 ÷ 25.10) зависимость полной стоимости различных методов контро-
ля от доли брака представляет вид (см. рис. 25.4);
Рис. 25.4.
из него можно найти оптимальный по стоимости контроль. Критические точки
P
1
, P
2
, P
3
пересечения кривых 1 (для отсутствия контроля), 2 (для выборочного
контроля) и 3 (для сплошного контроля) полной стоимости.
P
1
=nC
k
/C
p
[N-P
A
(N-n-nK
2
)],
(25.11)
P
2
=C
k
/C
p
(1-K
1
)],
(25.12)
P
3
= [P
A
C
k
(N-nP
A
+n)-nC
p
]/{P
A
2
C
p
[(N-n)+nK
2
-P
A
C
p
K
1
N],
(25.13)
При этом если задана доля брака Р
3
≥Р, то экономичным оказывается выбо-
рочный контроль, при Р
2
>Р
3
– сплошной контроль.
ЭРЭ и ИМС подлежащие установке на ПП подвергаются контролю паяемо-
сти выводов, их обрезке, лужению и размещению в технологической таре.

Страницы