Методы тестирования программного обеспечения. Степанченко И.В. - 68 стр.

UptoLike

Составители: 

70
ределить, корректно ли эти ресурсы были запрошены (например, верны
ли атрибуты открытия файлов) до того момента, пока не начнется тести-
рование использующих их классов нижнего уровня.
3.4.2. Восходящее тестирование
Рассмотрим восходящую стратегию пошагового тестирования. Во
многих отношениях восходящее тестирование противоположно нисхо-
дящему; преимущества нисходящего тестирования становятся недостат-
ками восходящего тестирования
и, наоборот, недостатки нисходящего
тестирования становятся преимуществами восходящего. Имея это в виду,
обсудим кратко стратегию восходящего тестирования.
Данная стратегия предполагает начало тестирования с терминальных
классов (т. е. классов, не использующих методы других классов). Как и
ранее, здесь нет такой процедуры для выбора класса, тестируемого на
следующем шаге, которой бы отдавалось предпочтение
. Единственное
правило состоит в том, чтобы очередной класс использовал уже оттести-
рованные классы.
Если вернуться к рис. 12, то первым шагом должно быть тестирова-
ние нескольких или всех классов Е, J, G, К, L и I последовательно или
параллельно. Для каждого из них требуется свой драйвер, т. е. програм-
ма, которая содержит фиксированные тестовые данные,
вызывает тести-
руемый класс и отображает выходные результаты (или сравнивает реаль-
ные выходные результаты с ожидаемыми). В отличие от заглушек, драй-
вер не должен иметь несколько версий, поэтому он может последова-
тельно вызывать тестируемый класс несколько раз. В большинстве слу-
чаев драйверы проще разработать, чем заглушки.
Как и в предыдущем случае
, на последовательность тестирования влия-
ет критичность природы класса. Если мы решаем, что наиболее критичны
классы D и F, то промежуточное состояние будет соответствовать рис. 15.
Следующими шагами могут быть тестирование класса Е, затем класса В и
комбинирование В с предварительно оттестированными классами Е, F, J.
Драйвер
Драйвер
D
F
I
J
H
K L
Рис. 15. Промежуточное состояние при восходящем тестировании
ределить, корректно ли эти ресурсы были запрошены (например, верны
ли атрибуты открытия файлов) до того момента, пока не начнется тести-
рование использующих их классов нижнего уровня.
                     3.4.2. Восходящее тестирование
     Рассмотрим восходящую стратегию пошагового тестирования. Во
многих отношениях восходящее тестирование противоположно нисхо-
дящему; преимущества нисходящего тестирования становятся недостат-
ками восходящего тестирования и, наоборот, недостатки нисходящего
тестирования становятся преимуществами восходящего. Имея это в виду,
обсудим кратко стратегию восходящего тестирования.
     Данная стратегия предполагает начало тестирования с терминальных
классов (т. е. классов, не использующих методы других классов). Как и
ранее, здесь нет такой процедуры для выбора класса, тестируемого на
следующем шаге, которой бы отдавалось предпочтение. Единственное
правило состоит в том, чтобы очередной класс использовал уже оттести-
рованные классы.
     Если вернуться к рис. 12, то первым шагом должно быть тестирова-
ние нескольких или всех классов Е, J, G, К, L и I последовательно или
параллельно. Для каждого из них требуется свой драйвер, т. е. програм-
ма, которая содержит фиксированные тестовые данные, вызывает тести-
руемый класс и отображает выходные результаты (или сравнивает реаль-
ные выходные результаты с ожидаемыми). В отличие от заглушек, драй-
вер не должен иметь несколько версий, поэтому он может последова-
тельно вызывать тестируемый класс несколько раз. В большинстве слу-
чаев драйверы проще разработать, чем заглушки.
     Как и в предыдущем случае, на последовательность тестирования влия-
ет критичность природы класса. Если мы решаем, что наиболее критичны
классы D и F, то промежуточное состояние будет соответствовать рис. 15.
Следующими шагами могут быть тестирование класса Е, затем класса В и
комбинирование В с предварительно оттестированными классами Е, F, J.
                                         Драйвер



                   Драйвер                 D


                      F                    H            I



                      J              K             L

          Рис. 15. Промежуточное состояние при восходящем тестировании

                                      70