Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии. Нагорнов Ю.С

UptoLike

Способы исследования поверхности методами атомно-силовой и электронной микроскопии. Нагорнов Ю.С

РЕШЕНИЕ (файл) вывод, красное-белое: 

Формат файла: 

PDF

Ключевые слова: 

Аннотация: 

В учебном пособии представлена современная научная информация о возможностях атомно-силовой и электронной сканирующей микроскопии. Приведены характерные особенности методик атомно-силовой микроскопии, которые позволяют получать дополнительную информацию о ее свойствах. В частности рассмотрены режим фазового контраста, метод Зонда Кельвина, метод латеральных сил. Рассмотрены принцип работы электронного сканирующего микроскопа и примеры реализации различных методик для исследования микроскопических объектов электролитического происхождения. В частности, продемонстрированы методические приемы получения изображений, позволяющие однозначно идентифицировать габитус микрокристаллов, а также способы получения изображений из внутренних поверхностей полостей микрокристаллов.

Рекомендуемые учебно-методические материалы