Современные методы исследования оптических материалов. Часть II. Методы исследования поверхности оптических материалов и тонких пленок. Золотарев В.М

Курс лекций является первым учебно-методическим пособием по современным методам исследования оптических материалов. В нем кратко рассмотрены основы рентгеновских, оптических, спектральных и термических методов исследования оптических материалов, в том числе и наноматериалов. Дан анализ областей применения этих методов применительно к задачам, связанным с проведением исследований по разработке новых оптических материалов. Описание принципов действия методов сопровождается набором иллюстраций в формате 2D и 3D, которые позволяют представить данные, получаемые на приборах, в наглядной форме, удобной для восприятия многоплановой информации. Учебное пособие разделено на две части. В первой части рассмотрены современные методы изучения химического состава и структуры вещества. Во второй части рассмотрены современные методы исследования поверхности оптических материалов и тонких пленок.Учебное пособие предназначено для бакалавров и магистров, обучающихся по направлению 200700 "Фотоника и оптоинформатика" по профилю подготовки "Наноматериалы и нанотехнологии фотоники и оптоинформатики" при изучении дисциплин "Конденсированные лазерные среды", "Волноводная фотоника", "Материалы и технологии волоконной и интегральной оптики", "ИК-фотоника", "Спектроскопия и рефрактометрия", "Наноматериалы и нанотехнологии", "Стеклообразные полупроводники для фотоники", "Методы исследования материалов фотоники", "Органические оптические материалы и композиты".Рекомендовано УМО по образованию в области приборостроения, и оптотехники в качестве учебного пособия для студентов и магистров высших учебных заведений, обучающихся по направлениям подготовки 200700 - "Фотоника и оптоинформатика" и 200400 - "Оптотехника".