Нестационарные и релаксационные процессы в полупроводниках. Устюжанинов В.Н - 82 стр.

UptoLike

82
где 0,5 < r < 1,5 в зависимости от структуры энергетических зон
полупроводника. Величина
0
α не поддается строгому аналитическому
определению. Для простейшего случая изотропных зон с квадратичным
законом дисперсии
0
α
определяется в виде
2
3
0
2
2
3
22
0
3
8
+
ε
π
=α
np
n
n
p
mm
m
cnm
mh
, (4.14)
где
n
m ,
p
m эффективные массы электрона и дырки соответственно;
cскорость света; n показатель преломления.
Из формул (4.12) (4.14) следует, что по мере увеличения частоты
гр
ω
>
ω
электромагнитных колебаний оптического диапазона возрастает
коэффициент фундаментального поглощения. При этом сложный характер
этой зависимости определяется через эффективные массы электронов и
дырок формой зоны проводимости и валентной зоны в пространстве
волнового вектора.
Наряду с прямыми переходами возможны механизмы
многоступенчатых непрямых переходов, включающих рассеяние
электронов на тепловых колебаниях решеткифононах. Вероятности
непрямых переходов для излучений оптического диапазона ниже, чем
прямых, поскольку определяются множеством факторов (как минимум,
зависят от процессов фотон-электронного, электрон-фононного
взаимодействия).
На рис. 4.3 представлены
спектры поглощения ряда
полупроводников с четко
выраженными границами
фундаментального поглоще-
ния, определяемыми непрямы-
ми переходами. По мере
незначительного увеличения
энергии фотона коэффициент
поглощения резко возрастает
вследствие преобладания
механизма прямых переходов.
Примесное поглощение
оптического излучения
обусловлено переходами вида:
примесный уровеньзона
проводимости; валентная зона
примесный уровень. Такие
0
,
6 1 2 3 4 5 6 7 8 h
ν
.эВ
α,м
-1
10
6
10
5
10
4
10
3
10
2
10
1
10
0
Ge
GaAs
Si
300 K
77
K
Рис. 4.3. Спектр поглощения собственных
полупроводников Ge, Si и GaAs