Техника высоких напряжений. Важов В.Ф - 73 стр.

UptoLike

2) величина tg
δ может быть непосредственно измерена мостом пе-
ременного тока.
Метод контроля изоляции путем измерения угла диэлектрических
потерь является самым эффективным и распространенным. Он позволя-
ет выявить следующие дефекты: увлажнение, воздушные (газовые)
включения с процессами ионизации, неоднородности, загрязнения и др.
Измерения tg
δ ведутся при напряжении U 10 кВ и частоте 50 Гц
при помощи высоковольтных мостовых схем (мост Шеринга). Оценка
состояния изоляции по значению tg
δ предусматривается нормативами
почти для всех видов изоляции. В зависимости от конструктивных осо-
бенностей объекта (заземлен один электрод или нет) используется нор-
мальная или перевернутая схема моста Шеринга.
По нормальной схеме обычно выполняются измерения в лаборато-
риях, а также измерения межфазной изоляции (кабель, трансформатор
и т. п.).
Выпускаются мосты типа МДП, которые позволяют измерять tg
δ
при емкостях объектов от 40 до 20000 пФ.
При работе с перевернутой схемой нужно иметь в виду, что от из-
мерительных ветвей и конденсатора
C
3
(измеряемый объект) идут про-
водники, находящиеся под высоким напряжением.
Для измерений по перевернутой схеме применяется малогабарит-
ный переносной мост МД-16, который позволяет измерять tg
δ при ем-
костях объекта от 30 до 40000 пФ.
2.6.4. Методы обнаружения частичных разрядов
1. Метод измерения электромагнитных волн, излучаемых частич-
ными разрядами (индикаторы радиоизлученийИРИ). ИРИ называют
дефектоскопами.
Этот метод основан на радиоприеме электромагнитных излучений
при ЧР в изоляции. Он чаще всего применяется для выявления дефект-
ных изоляторов на линиях электропередачи.
Недостатками этого метода являются: плохая помехоустойчивость
(помехи создаются короной проводов и др.), отсутствие
количественной
оценки.
2. Метод диэлектрических потерь основан на определении точки
перегиба на кривой зависимости тангенса диэлектрических потерь от
напряжения на диэлектрике (см. рис. 2.12), которая называется кривой
ионизации. Излом на этой кривой совпадает с возникновением частич-
ных разрядов в объеме изоляции.
73