Получение и исследования наноструктур. Вальднер В.О - 61 стр.

                              61

запустить программу управления; проверить схему соединения
отдельных блоков.
     Выбрать исследуемые образцы (по заданию преподавателя):
№1 – неупорядоченная структура, №2 – упорядоченная структура
(фотонный кристалл); в зависимости от типа образца выбрать оп-
тическую схему (на просвет или на отражение).
     Укрепить образец №1 на держателе образца.
     Установить рабочую длину волны монохроматора, равной
550 нм (с использованием программы), используя XYZ-
юстировочное устройство сфокусировать световое пятно на об-
разце с контролем при помощи микроскопа.
     Сфокусировать световое пятно на фотодиоде при помощи
объектива.
     Задать рабочие параметры в программе
     Провести измерение спектра 3 раза, данные записывать в
файл.
     Повторить пункты 3-7 для образца №2.
     Снять все образцы с держателя, повторить пункты 6-7, та-
ким образом будет измерена спектральная зависимость чувстви-
тельности установки.

          Обработка и представление результатов

     В отчете представить:
     1.Электронно- микроскопические изображения исследуемых
образцов;
     2.Оптическую микрофотографию упорядоченного образца
     3.Спектральные зависимости коэффициентов отражения
(пропускания) для образцов №1-2, спектральную зависимость
чувствительности установки.
     4.Спектральные зависимости коэффициентов отражения
(пропускания) для образцов №1-2, нормированные на спектраль-
ную зависимость чувствительности установки.
     5.Для образца 2 определить положение и ширину запрещен-
ной фотонной зоны.