Квалиметрия. Варжапетян А.Г. - 64 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

СПб ГУАП | Санкт-Петербург

Составители: 

Рубрика: 

64
– бортовая аппаратура (аппаратура, устанавливаемая на самоле
тах, ракетах, космических аппаратах), учитывающая особенности
использования (ударные перегрузки, разреженность воздуха, огра
ниченность массогабаритных характеристик и т. п.)
1Б. Надежность. Само понятие надежности, как свойства про
дукции сохранять за установленное время значение всех парамет
ров, характеризующих способность выполнять требуемые функции
в условиях применения, технического обслуживания, хранения, по
казывает, что оно является сложным свойством. Чаще всего рассмат
ривают единичные свойства безотказности, ремонтопригодности,
долговечности и сохраняемости. Такие понятия, также входящие в
определение надежности, как устойчивость работы, процессная уп
равляемость, живучесть при внешних воздействиях, большинством
авторов рассматриваются отдельно и, более того, утверждается, что
они не имеют отношения к надежности. Сама характеристика на
дежности довольно трудна для представления, так как она носит ста
тистический характер.
Появление микроэлектронных, а с начала 90х годов наноэлект
ронных устройств привело к парадоксальному, на первый взгляд,
результату – резкое увеличение числа элементов в системе привело к
одновременному возрастанию характеристик надежности. Объясне
ние этого “парадокса” довольно просто: надежность элементов шла
опережающими темпами по сравнению с ростом сложности. Так, если
в 70е годы интенсивность отказов оценивалась значениями 10
–5
–
10
–6
единиц отказа в час (т. е. один из миллиона элементов откажет
в течение часа), то для микроэлектронных элементов была уже пред
ложена единица, названная фитом (failure digit), равная 10
–9
, и уже
есть сообщения, что наноэлектронные изделия оцениваются тысяч
ными долями фита. В справедливость этих утверждений можно ве
рить умозрительно, так как автору неизвестны методы статистичес
кой оценки таких малых величин. Например, для подтверждения
интенсивности отказов 10
–2
с доверительной вероятностью 90% и
заданной точностью требуется проведение испытаний длительнос
тью не менее 3200 часов (для одного образца). Уже на этапе исследо
вания систем проекта Аполлон, разработчики отказались от прове
дения определительных испытаний характеристик надежности. Вто
рое обстоятельство, характерное для микроэлектронной аппарату
ры: участок приработки оказывается длиннее, чем срок морального
устаревания аппаратуры. И, наконец, характеристика средней нара
ботки на отказ для сложной радиоаппаратуры практически не имеет
физического смысла [5,6]. Однако все заказчики и существующие

Страницы