Физика рентгеновского излучения. Владимирова Л.И - 26 стр.

                    Ia = k F(Ca/m)                                      (2)
                m - массовый коэффициент ослабления образцом вторичного
          излучения
                Учесть влияние m можно, используя интенсивность рентгеновского
          фона.
                В коротковолновой области спектра фон обусловлен в основном
          рассеянием на образце излучения рентгеновской трубки, которое, как и
          флуоресцентное излучение, ослабляется в этом образцом. В первом
          приближении можно считать, что интенсивность рассеянного излучения
          равна
                    Ip = k F(s/m1)                                     (3)
                s - массовый коэффициент рассеяния;
                m1 - массовый коэффициент ослабления первичного излучения.
                Для образцов, состоящих из атомов легких элементов, s изменяется
          существенно меньше, чем коэффициент поглощения и это изменение не
          учитывают.
                Кроме того, если между линией фона и линией определяемого
          элемента нет скачков поглощения и содержание самого определяемого
          элемента невелико, то m1 однозначно связано с m и формула (3) может
          быть представлена в виде:
                    Ip = k F(1/m)                                      (4)
                Разделив (1) на (4), получим зависимость, пригодную для
          выполнения анализа:
                    Ia/Ip = F(Ca)                                      (5)
                Метод анализа, построенный на использовании выражения (5),
          называется методом стандарта-фона, который применяется при
          определении малых содержание элементов (сотые, тысячные доли
          процента по массе).
                Операции, которые необходимо выполнить для анализа:
                1. Измерить интенсивности флуоресценции определяемого элемента
          для всех градуировочных образцов;
                2. Измерить интенсивности фона вблизи линии определяемого
          элемента для всех градуировочных образцов;
                3. Рассчитать отношения Ia/Ip.
                4. По измеренным образцам построить зависимость (5).
                5. Измерить интенсивность линии определяемого элемента для
          образца неизвестного состава;
                6. Измерить интенсивность фона от неизвестной пробы на той же
          длине волны, что и при измерении фона градуировочных образцов;
                7. С помощью градуировочной зависимости найти содержание
          определяемого элемента в неизвестной пробе;



                                                                                   26

PDF created with FinePrint pdfFactory Pro trial version http://www.fineprint.com