Оптические методы исследования вещества. Волошина Т.В - 41 стр.

UptoLike

ВУЗ: 

ВГУ | Воронеж

Составители: 

Рубрика: 

41
высококачественного спектра между образцом и рабочей поверхностью
элемента НПВО необходим оптический контакт .
При исследовании многих массивных образцов , тонких пленок,
мономолекулярных слоев и т.п. при однократном отражении не удается
получить достаточно интенсивные и контрастные спектры. В этих случаях
для увеличения интенсивности спектра можно использовать метод –
многократного нарушенного полного внутреннего отражения. В тех
случаях, когда необходимо добиться максимального разрешения в спектре ,
целесообразно применять элементы МНПВО, работающие при различных
углах падения.
Порядок выполнения работы
1. Изучить основные положения феноменологической
макроскопической теории отражения и границы применимости теории.
2. Изучить конструктивные особенности спектрофотометра СФ -18,
предназначенного для измерения коэффициентов пропускания и
оптической плотности прозрачных твердых и жидких веществ в видимой
области спектра, а также для измерения коэффициентов отражения
светорассеивающих веществ относительным методом и методом Тейлора.
3. Изучить общие свойства светофильтров (СФ ) и их различные
типы: абсорбционные (твердые , жидкие и газовые ) СФ , отражающие СФ ,
интерференционные СФ , дисперсные СФ , интерференционно-
поляризационные СФ и СФ специального назначения.
4. Изучить конструктивные особенности приставок для измерения
относительного и абсолютного коэффициентов отражения в инфракрасной
области спектра (ИПО -12 и др.)
5. Изучить физические основы спектроскопии нарушенного
полного внутреннего отражения (НПВО), технику эксперимента.
Задание 1. Измерить пропускающую способность отдельных
абсорбционных светофильтров , сравнить экспериментальные и
паспортные данные . Выделить с помощью комбинации светофильтров
узкую полосу пропускания в видимой части спектра (по заданию
преподавателя).
Задание 2. Измерить спектр пропускания твердого образца (пленки ,
монокристалла, светофильтра и т .п .) Измерения проводить или методом
Тейлора, или относительным методом. Провести анализ полученного
спектра.
Задание 3. Измерить спектр отражения светорассеивающего
образца или зеркально-отражающей плоской поверхности
полупроводникового материала или биологического объекта. Провести
анализ полученного спектра.
Задание 4. (научно-исследовательское ). Дать сравнительные
характеристики различных типов спектрофотометров . Определить
критерии выбора прибора для решения конкретной задачи.

Страницы