Составители:
Рубрика:
образцов обойтись одним отверстием для ввода излучения, на рисунке –
в нижней точке сферы.
На выходе получается промодулированный сигнал. Дальше мож-
но просто измерить амплитуду модуляции и получить абсолютную ве-
личину разности коэффициентов отражения. А можно независимо
измерить сигналы обеих фаз и вычислить отношение или разность ко-
эффициентов отражения. Каждый поступает, как ему надо. Но принци-
пиально важно, что оба отраженных потока регистрируются одним
детектором (ФЭУ). Это существенно повышает точность измерений,
т.к. сделать два детектора с одинаковой чувствительностью практиче-
ски невозможно.
Рис. 2.3.8 Спектры отражения
различных диффузно отра-
жающих слоев, применяемых в
интегрирующих сферах.
Спектры любезно предоставлены
Кузнецовым В.Н
200
1.0
0.8
0.6
0.4
0.2
300
400 500 600 700
800
λ
, нм
Коэффициент отражения
ρ
—
Слой фторопласта ФД4
—
Слой BaSO
4
—
Молочное стекло
.
Выражение (2.3.2) справедливо для сферы без отверстий и для ко-
эффициента отражения, близкого к единице. Без отверстий обойтись
невозможно, но коэффициент отражения удается сделать довольно
близким к единице, см. рис. 2.3.8.
Подобные устройства часто используются для исследования цен-
тров окраски щелочногалоидных кристаллов или изменений спектров
поверхностей прозрачных порошков при различных обработках. Иными
словами – слабых линий поглощения, возникающих в прозрачных ве-
ществах. Здесь важны именно диффузные компоненты отражения, так
как они формируются в результате многократных переотражений на
границах зерен порошка.
34
Страницы
- « первая
- ‹ предыдущая
- …
- 32
- 33
- 34
- 35
- 36
- …
- следующая ›
- последняя »
