ВУЗ:
Составители:
Рубрика:
- 9 -
объясняется тем, что такие факторы, как отражение от образца, сферичность
фронта волны, дифракция на краю листа, действуют каждый раз по-разному.
Погрешность каждого отдельного измерения, обусловленная
переотражениями и дифракционными явлениями, носит систематический
характер.
Источником систематических погрешностей при измерении будут в
первую очередь многократные отражения от листа диэлектрика и рупоров,
влияющие на результат измерения фазы. Обозначим через
Γ
Γ
и
H
Γ
модули
коэффициентов отражения от рупоров, измеряемые в месте расположения
листа диэлектрика. При использовании одинаковых рупоров и размещении
листа диэлектрика примерно на одинаковых расстояниях от рупоров
),LL(
PH21
Γ=Γ=Γ=
Γ
основную составляющую погрешности можно
записать в виде [2]:
)sin(sinS)(
21P
ψ
+
ψ
Γ≈
ϕ
∆∆
,
(13)
где
S
- модуль коэффициента отражения от листа диэлектрика,
10P111
Lk2
+
ϕ
+
ϕ
=
ψ
,
20P112
Lk2
+
ϕ
+
ϕ
=
ψ
,
11
ϕ
и
P
ϕ
- фазы коэффициентов отражений от листа диэлектрика и рупора,
0
k
- волновое число.
Величина
S
зависит от толщины листа и
ε
материала,
P
Γ
- от
величины раскрыва рупора, степени согласования рупора с трактом и
расстояния до него. Известно, что
S
будет минимальным, если толщина
листа кратна целому числу полуволн в диэлектрике. Снизить
P
Γ
при
выбранных рупорах можно, увеличивая расстояние между рупором и
листом, что приводит к увеличению габаритов установки и требуемого для
измерений образца диэлектрика.
Снизить погрешность за счет переотражений можно путем
компенсации погрешности по знаку. Знак перед круглой скобкой в
выражении (13) будет меняться на обратный, если углы
1
ψ
и
2
ψ
одновременно изменить на величину
π
. Такое изменение получается при
